Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої
 структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі.
 В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів
 ма...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Радиофизика и радиоастрономия |
|---|---|
| Дата: | 2010 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
Радіоастрономічний інститут НАН України
2010
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60106 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Визначення характеристик шаруватої структури
 за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття
 матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862726349677920256 |
|---|---|
| author | Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. |
| author_facet | Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. |
| citation_txt | Визначення характеристик шаруватої структури
 за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття
 матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Радиофизика и радиоастрономия |
| description | Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої
структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі.
В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів
матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через
перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально
провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів
досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці
розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент.
Представлен метод определения диэлектрических проницаемостей и толщин слоев плоской многослойной структуры исходя из результатов измерений коэффициента отражения
плоской электромагнитной волны. В этом методе используется подход к реконструкции
частотной зависимости всех элементов матрицы рассеяния в ограниченном диапазоне
частот. Восстановление матрицы рассеяния
осуществлено путем перерасчета измеренных
коэффициентов отражения от такой структуры
в свободном пространстве и на идеально проводящей подложке. Высокой точности определения диэлектрической проницаемости
и толщины слоев удалось достичь за счет идентификации спектральных коэффициентов, которые выделены из элементов матрицы рассеяния и представлены в виде конечного ряда
незатухающих комплексных экспонент.
A new method for determination of both
layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer
structure is proposed. The reflection coefficient
of a plain electromagnetic wave is considered
as initial data in the problem. The method
is based on an approach to reconstruction of the
frequency dependences of all scattering matrix
elements in a limited waveband. The scattering
matrix has been recovered by recalculation of the
measured reflection coefficients for this structure
in free space and on a perfectly-conducting
screen. A high accuracy in both permittivity and
thickness determination is achieved due to identification
of spectral coefficients which are distinguished
from scattering matrix elements and expressed
as a finite series of undamped complex
exponents.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:57:03Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-60106 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-9636 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:57:03Z |
| publishDate | 2010 |
| publisher | Радіоастрономічний інститут НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. 2014-04-11T15:32:05Z 2014-04-11T15:32:05Z 2010 Визначення характеристик шаруватої структури
 за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття
 матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. 1027-9636 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60106 537.874.4 Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої
 структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі.
 В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів
 матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через
 перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально
 провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів
 досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці
 розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. Представлен метод определения диэлектрических проницаемостей и толщин слоев плоской многослойной структуры исходя из результатов измерений коэффициента отражения
 плоской электромагнитной волны. В этом методе используется подход к реконструкции
 частотной зависимости всех элементов матрицы рассеяния в ограниченном диапазоне
 частот. Восстановление матрицы рассеяния
 осуществлено путем перерасчета измеренных
 коэффициентов отражения от такой структуры
 в свободном пространстве и на идеально проводящей подложке. Высокой точности определения диэлектрической проницаемости
 и толщины слоев удалось достичь за счет идентификации спектральных коэффициентов, которые выделены из элементов матрицы рассеяния и представлены в виде конечного ряда
 незатухающих комплексных экспонент. A new method for determination of both
 layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer
 structure is proposed. The reflection coefficient
 of a plain electromagnetic wave is considered
 as initial data in the problem. The method
 is based on an approach to reconstruction of the
 frequency dependences of all scattering matrix
 elements in a limited waveband. The scattering
 matrix has been recovered by recalculation of the
 measured reflection coefficients for this structure
 in free space and on a perfectly-conducting
 screen. A high accuracy in both permittivity and
 thickness determination is achieved due to identification
 of spectral coefficients which are distinguished
 from scattering matrix elements and expressed
 as a finite series of undamped complex
 exponents. uk Радіоастрономічний інститут НАН України Радиофизика и радиоастрономия Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Определение характеристик многослойной структуры по реконструированной по коэффициентам отражения матрицей рассеяния Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients Article published earlier |
| spellingShingle | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн |
| title | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_alt | Определение характеристик многослойной структуры по реконструированной по коэффициентам отражения матрицей рассеяния Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients |
| title_full | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_fullStr | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_full_unstemmed | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_short | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_sort | визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| topic | Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн |
| topic_facet | Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60106 |
| work_keys_str_mv | AT nazarčukzt viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstruiovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ AT sinâvsʹkiiat viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstruiovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ AT nazarčukzt opredelenieharakteristikmnogosloinoistrukturyporekonstruirovannoipokoéfficientamotraženiâmatriceirasseâniâ AT sinâvsʹkiiat opredelenieharakteristikmnogosloinoistrukturyporekonstruirovannoipokoéfficientamotraženiâmatriceirasseâniâ AT nazarčukzt determinationofmultilayerstructureparametersbymeansofreconstructionofscatteringmatrixfromknownreflectioncoefficients AT sinâvsʹkiiat determinationofmultilayerstructureparametersbymeansofreconstructionofscatteringmatrixfromknownreflectioncoefficients |