Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обме...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Радиофизика и радиоастрономия |
|---|---|
| Datum: | 2010 |
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Радіоастрономічний інститут НАН України
2010
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60106 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-60106 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. 2014-04-11T15:32:05Z 2014-04-11T15:32:05Z 2010 Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. 1027-9636 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60106 537.874.4 Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. Представлен метод определения диэлектрических проницаемостей и толщин слоев плоской многослойной структуры исходя из результатов измерений коэффициента отражения плоской электромагнитной волны. В этом методе используется подход к реконструкции частотной зависимости всех элементов матрицы рассеяния в ограниченном диапазоне частот. Восстановление матрицы рассеяния осуществлено путем перерасчета измеренных коэффициентов отражения от такой структуры в свободном пространстве и на идеально проводящей подложке. Высокой точности определения диэлектрической проницаемости и толщины слоев удалось достичь за счет идентификации спектральных коэффициентов, которые выделены из элементов матрицы рассеяния и представлены в виде конечного ряда незатухающих комплексных экспонент. A new method for determination of both layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer structure is proposed. The reflection coefficient of a plain electromagnetic wave is considered as initial data in the problem. The method is based on an approach to reconstruction of the frequency dependences of all scattering matrix elements in a limited waveband. The scattering matrix has been recovered by recalculation of the measured reflection coefficients for this structure in free space and on a perfectly-conducting screen. A high accuracy in both permittivity and thickness determination is achieved due to identification of spectral coefficients which are distinguished from scattering matrix elements and expressed as a finite series of undamped complex exponents. uk Радіоастрономічний інститут НАН України Радиофизика и радиоастрономия Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Определение характеристик многослойной структуры по реконструированной по коэффициентам отражения матрицей рассеяния Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| spellingShingle |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн |
| title_short |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_full |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_fullStr |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_full_unstemmed |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_sort |
визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| author |
Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. |
| author_facet |
Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. |
| topic |
Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн |
| topic_facet |
Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн |
| publishDate |
2010 |
| language |
Ukrainian |
| container_title |
Радиофизика и радиоастрономия |
| publisher |
Радіоастрономічний інститут НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Определение характеристик многослойной структуры по реконструированной по коэффициентам отражения матрицей рассеяния Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients |
| description |
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої
структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі.
В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів
матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через
перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально
провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів
досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці
розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент.
Представлен метод определения диэлектрических проницаемостей и толщин слоев плоской многослойной структуры исходя из результатов измерений коэффициента отражения
плоской электромагнитной волны. В этом методе используется подход к реконструкции
частотной зависимости всех элементов матрицы рассеяния в ограниченном диапазоне
частот. Восстановление матрицы рассеяния
осуществлено путем перерасчета измеренных
коэффициентов отражения от такой структуры
в свободном пространстве и на идеально проводящей подложке. Высокой точности определения диэлектрической проницаемости
и толщины слоев удалось достичь за счет идентификации спектральных коэффициентов, которые выделены из элементов матрицы рассеяния и представлены в виде конечного ряда
незатухающих комплексных экспонент.
A new method for determination of both
layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer
structure is proposed. The reflection coefficient
of a plain electromagnetic wave is considered
as initial data in the problem. The method
is based on an approach to reconstruction of the
frequency dependences of all scattering matrix
elements in a limited waveband. The scattering
matrix has been recovered by recalculation of the
measured reflection coefficients for this structure
in free space and on a perfectly-conducting
screen. A high accuracy in both permittivity and
thickness determination is achieved due to identification
of spectral coefficients which are distinguished
from scattering matrix elements and expressed
as a finite series of undamped complex
exponents.
|
| issn |
1027-9636 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60106 |
| citation_txt |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. |
| work_keys_str_mv |
AT nazarčukzt viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstruiovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ AT sinâvsʹkiiat viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstruiovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ AT nazarčukzt opredelenieharakteristikmnogosloinoistrukturyporekonstruirovannoipokoéfficientamotraženiâmatriceirasseâniâ AT sinâvsʹkiiat opredelenieharakteristikmnogosloinoistrukturyporekonstruirovannoipokoéfficientamotraženiâmatriceirasseâniâ AT nazarčukzt determinationofmultilayerstructureparametersbymeansofreconstructionofscatteringmatrixfromknownreflectioncoefficients AT sinâvsʹkiiat determinationofmultilayerstructureparametersbymeansofreconstructionofscatteringmatrixfromknownreflectioncoefficients |
| first_indexed |
2025-12-07T18:57:03Z |
| last_indexed |
2025-12-07T18:57:03Z |
| _version_ |
1850876964230922240 |