Нейросетевая технология идентификации при диагностировании транзисторов на основе «предвестников» отказов

В статье рассматривается проблема автоматизированного диагностирования транзисторов на основе сигнализирующих о возникновении их дефектов «предвестников» отказов. Предлагается информационная технология идентификации при диагностировании этих изделий на основе нейронных сетей. У статті розглядаєт...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Штучний інтелект
Datum:2011
1. Verfasser: Щербакова, Г.Ю.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2011
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60240
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Нейросетевая технология идентификации при диагностировании транзисторов на основе «предвестников» отказов / Г.Ю. Щербакова // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 537-542. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:В статье рассматривается проблема автоматизированного диагностирования транзисторов на основе сигнализирующих о возникновении их дефектов «предвестников» отказов. Предлагается информационная технология идентификации при диагностировании этих изделий на основе нейронных сетей. У статті розглядається проблема автоматизованого діагностування транзисторів на базі «попередників» відмов. Запропоновано інформаційну технологію ідентифікації при діагностуванні цих виробів на базі нейронних кіл. The paper is devoted to the problem of the transistors automated diagnostics in the refusal «forecast» base. The information technology of identification in the neuron nets base for these transistors is proposed.
ISSN:1561-5359