Нейросетевая технология идентификации при диагностировании транзисторов на основе «предвестников» отказов

В статье рассматривается проблема автоматизированного диагностирования транзисторов на основе 
 сигнализирующих о возникновении их дефектов «предвестников» отказов. Предлагается информационная 
 технология идентификации при диагностировании этих изделий на основе нейронных сетей. У с...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Штучний інтелект
Date:2011
Main Author: Щербакова, Г.Ю.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2011
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60240
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Нейросетевая технология идентификации при диагностировании транзисторов на основе «предвестников» отказов / Г.Ю. Щербакова // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 537-542. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:В статье рассматривается проблема автоматизированного диагностирования транзисторов на основе 
 сигнализирующих о возникновении их дефектов «предвестников» отказов. Предлагается информационная 
 технология идентификации при диагностировании этих изделий на основе нейронных сетей. У статті розглядається проблема автоматизованого діагностування транзисторів на базі «попередників» 
 відмов. Запропоновано інформаційну технологію ідентифікації при діагностуванні цих виробів на базі 
 нейронних кіл. The paper is devoted to the problem of the transistors automated diagnostics in the refusal «forecast» base. 
 The information technology of identification in the neuron nets base for these transistors is proposed.
ISSN:1561-5359