Нейросетевая технология идентификации при диагностировании транзисторов на основе «предвестников» отказов

В статье рассматривается проблема автоматизированного диагностирования транзисторов на основе 
 сигнализирующих о возникновении их дефектов «предвестников» отказов. Предлагается информационная 
 технология идентификации при диагностировании этих изделий на основе нейронных сетей. У с...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Штучний інтелект
Дата:2011
Автор: Щербакова, Г.Ю.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2011
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60240
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Нейросетевая технология идентификации при диагностировании транзисторов на основе «предвестников» отказов / Г.Ю. Щербакова // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 537-542. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:В статье рассматривается проблема автоматизированного диагностирования транзисторов на основе 
 сигнализирующих о возникновении их дефектов «предвестников» отказов. Предлагается информационная 
 технология идентификации при диагностировании этих изделий на основе нейронных сетей. У статті розглядається проблема автоматизованого діагностування транзисторів на базі «попередників» 
 відмов. Запропоновано інформаційну технологію ідентифікації при діагностуванні цих виробів на базі 
 нейронних кіл. The paper is devoted to the problem of the transistors automated diagnostics in the refusal «forecast» base. 
 The information technology of identification in the neuron nets base for these transistors is proposed.
ISSN:1561-5359