Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂

• Published in: Наноструктурное материаловедение
• Date: 2009
• Main Authors: Димарчук, В.О., Огенко, В.М., Набока, О.В., Дубровіна, Л.В., Карпець, М.В., Зауличний, Я.В., Хижун, О.Ю., Волков, С.В.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України 2009
• Subjects: Функциональные материалы на основе наноразмерного кремнезема
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/62617
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂ / В.О. Димарчук, В.М. Огенко, О.В. Набока, Л.В. Дубровіна, М.В. Карпець, Я.В. Зауличний, О.Ю. Хижун, С.В. Волков // Наноструктурное материаловедение. — 2009. — № 1. — С. 10-18. — Бібліогр.: 21 назв. — укр.

Із застосуванням методів ентгенівської емісійної (ЕС) та фотоелектонної (ФС) спектоскопії досліджено електонну стуктуу вуглецевих композитів подуктів кабонізації толуїлендіізоціанату (ТДІ) в матицях високодиспесних оксидів SiO₂ й Al₂O₃. С применением методов рентгеновской эмиссионной (РЭС) и фотоэлектронной (РФС) спектроскопии исследована электронная структура углеродных композитов — продуктов карбонизации толуилендиизоцианата (ТДИ) в матрицах высокодисперсных оксидов SiO₂ и Al₂O₃. The methods of X-ray emission spectroscopy (XES) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) have been used to study the electronic structure of carbon composites, products of tolylene-diisocyanate (TDI) carbonization in high-dispersion SiO₂ and Al₂O₃.matrices.