Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂
Із застосуванням методів ентгенівської емісійної (ЕС) та фотоелектонної (ФС) спектоскопії досліджено електонну стуктуу вуглецевих композитів подуктів кабонізації толуїлендіізоціанату (ТДІ) в матицях високодиспесних оксидів SiO₂ й Al₂O₃. С применением методов рентгеновской эмиссионной (РЭС) и фотоэл...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Наноструктурное материаловедение |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| Hauptverfasser: | , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
2009
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/62617 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂ / В.О. Димарчук, В.М. Огенко, О.В. Набока, Л.В. Дубровіна, М.В. Карпець, Я.В. Зауличний, О.Ю. Хижун, С.В. Волков // Наноструктурное материаловедение. — 2009. — № 1. — С. 10-18. — Бібліогр.: 21 назв. — укр. |