Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії

• Опубліковано в: : Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения
• Дата: 2011
• Автор: Куцай, О.М.
• Формат: Стаття
• Мова: Українська
• Опубліковано: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2011
• Теми: Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/63275
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії / О.М. Куцай // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2011. — Вип. 14. — С. 414-416. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Досліджено та проаналізовано методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії фракційний склад вихідних та імплантованих аморфних тетраедричних вуглецевих плівок. Імплантовані та наноструктуровані ta-C плівки становлять перспективні матеріали графенової електроніки Исследован и проанализирован методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии фракционный состав исходных и имплантированных аморфных тетраэдрических углеродных пленок. Имплантированные и наноструктурированные ta-C пленки являются перспективными материалами графеновой электроники. The fraction composition of the original and carbon or argon ions implanted amorphous tetrahedral carbon films has been investigated and analyzed. The implanted and nanostructured tetrahedral carbon films could be promising materials for the graphene electronics.