Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії
Досліджено та проаналізовано методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії фракційний склад вихідних та імплантованих аморфних тетраедричних вуглецевих плівок. Імплантовані та наноструктуровані ta-C плівки становлять перспективні матеріали графенової електроніки Исследован и проанализирован м...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения |
|---|---|
| Дата: | 2011 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2011
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/63275 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії / О.М. Куцай // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2011. — Вип. 14. — С. 414-416. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862750963433996288 |
|---|---|
| author | Куцай, О.М. |
| author_facet | Куцай, О.М. |
| citation_txt | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії / О.М. Куцай // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2011. — Вип. 14. — С. 414-416. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения |
| description | Досліджено та проаналізовано методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії фракційний склад вихідних та імплантованих аморфних тетраедричних вуглецевих плівок. Імплантовані та наноструктуровані ta-C плівки становлять перспективні матеріали графенової електроніки
Исследован и проанализирован методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии фракционный состав исходных и имплантированных аморфных тетраэдрических углеродных пленок. Имплантированные и наноструктурированные ta-C пленки являются перспективными материалами графеновой электроники.
The fraction composition of the original and carbon or argon ions implanted amorphous tetrahedral carbon films has been investigated and analyzed. The implanted and nanostructured tetrahedral carbon films could be promising materials for the graphene electronics.
|
| first_indexed | 2025-12-07T21:08:53Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-63275 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2223-3938 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-07T21:08:53Z |
| publishDate | 2011 |
| publisher | Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Куцай, О.М. 2014-05-31T09:02:00Z 2014-05-31T09:02:00Z 2011 Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії / О.М. Куцай // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2011. — Вип. 14. — С. 414-416. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2223-3938 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/63275 621.793:546.26 Досліджено та проаналізовано методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії фракційний склад вихідних та імплантованих аморфних тетраедричних вуглецевих плівок. Імплантовані та наноструктуровані ta-C плівки становлять перспективні матеріали графенової електроніки Исследован и проанализирован методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии фракционный состав исходных и имплантированных аморфных тетраэдрических углеродных пленок. Имплантированные и наноструктурированные ta-C пленки являются перспективными материалами графеновой электроники. The fraction composition of the original and carbon or argon ions implanted amorphous tetrahedral carbon films has been investigated and analyzed. The implanted and nanostructured tetrahedral carbon films could be promising materials for the graphene electronics. uk Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії Article published earlier |
| spellingShingle | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії Куцай, О.М. Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора |
| title | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії |
| title_full | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії |
| title_fullStr | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії |
| title_full_unstemmed | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії |
| title_short | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії |
| title_sort | визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії |
| topic | Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора |
| topic_facet | Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/63275 |
| work_keys_str_mv | AT kucaiom viznačennâfrakcíinogoskladuvuglecevihplívkovihkondensatívmetodomrentegenívsʹkoífotoelektronnoíspektroskopíí |