К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C

Описана структура графитоподобных фаз BCx (x = 1, 1,5, 3, 4, 32), изученная методом рентгеновской дифрактометрии. Получены результаты, однозначно свидетельствующие о турбостратной (одномерно разупорядоченной) структуре всех исследуемых фаз. Определены параметры кристаллической решетки, размеры облас...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Сверхтвердые материалы
Datum:2010
Hauptverfasser: Куракевич, А.А., Шово, Т., Соложенко, В.Л.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2010
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/63477
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C / А.А. Куракевич, Т. Шово, В.Л. Соложенко // Сверхтвердые материалы. — 2010. — № 4. — С. 9-16. — Бібліогр.: 22 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-63477
record_format dspace
spelling Куракевич, А.А.
Шово, Т.
Соложенко, В.Л.
2014-06-02T14:16:55Z
2014-06-02T14:16:55Z
2010
К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C / А.А. Куракевич, Т. Шово, В.Л. Соложенко // Сверхтвердые материалы. — 2010. — № 4. — С. 9-16. — Бібліогр.: 22 назв. — рос.
0203-3119
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/63477
546.27:539.533
Описана структура графитоподобных фаз BCx (x = 1, 1,5, 3, 4, 32), изученная методом рентгеновской дифрактометрии. Получены результаты, однозначно свидетельствующие о турбостратной (одномерно разупорядоченной) структуре всех исследуемых фаз. Определены параметры кристаллической решетки, размеры областей когерентного рассеяния и величины микродеформации, что позволило провести корреляцию между структурой и составом фаз, синтезированных при одной температуре.
Описано структуру графітоподібних фаз BCx (x = 1, 1,5, 3, 4, 32), вивчену методом рентгенівської дифрактометрії. Отримано результати, що однозначно засвідчують турбостратну (одномірно розупорядковану) структуру всіх досліджених фаз. Визначено параметри кристалічної ґратки, розміри областей когерентного розсіювання і величини мікродеформації, що дозволило провести кореляцію між структурою і складом фаз, синтезованих при одній температурі.
The structure of graphite-like BCx phases (x = 1, 1,5, 3, 4, 32) has been studied using conventional X-ray diffraction. The obtained results unambiguously proved the turbostratic (one-dimensionally disordered) structure of all phases under study. The crystal lattice parameters, sizes of the coherent scattering domains and values of micro-strain have been established which allowed us to find a correlation between structure and stoichiometry of the phases synthesized at the same temperature.
Авторы благодарны д-ру А. Дерре (A. Derré) за любезно предоставленные образцы графитоподобных фаз системы B—C, а также выражают признательность Agence Nationale de la Recherche за финансовую поддержку (грант ANR-05-BLAN-0141).
ru
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
Сверхтвердые материалы
Получение, структура, свойства
К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C
spellingShingle К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C
Куракевич, А.А.
Шово, Т.
Соложенко, В.Л.
Получение, структура, свойства
title_short К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C
title_full К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C
title_fullStr К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C
title_full_unstemmed К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C
title_sort к вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы b—c
author Куракевич, А.А.
Шово, Т.
Соложенко, В.Л.
author_facet Куракевич, А.А.
Шово, Т.
Соложенко, В.Л.
topic Получение, структура, свойства
topic_facet Получение, структура, свойства
publishDate 2010
language Russian
container_title Сверхтвердые материалы
publisher Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
format Article
description Описана структура графитоподобных фаз BCx (x = 1, 1,5, 3, 4, 32), изученная методом рентгеновской дифрактометрии. Получены результаты, однозначно свидетельствующие о турбостратной (одномерно разупорядоченной) структуре всех исследуемых фаз. Определены параметры кристаллической решетки, размеры областей когерентного рассеяния и величины микродеформации, что позволило провести корреляцию между структурой и составом фаз, синтезированных при одной температуре. Описано структуру графітоподібних фаз BCx (x = 1, 1,5, 3, 4, 32), вивчену методом рентгенівської дифрактометрії. Отримано результати, що однозначно засвідчують турбостратну (одномірно розупорядковану) структуру всіх досліджених фаз. Визначено параметри кристалічної ґратки, розміри областей когерентного розсіювання і величини мікродеформації, що дозволило провести кореляцію між структурою і складом фаз, синтезованих при одній температурі. The structure of graphite-like BCx phases (x = 1, 1,5, 3, 4, 32) has been studied using conventional X-ray diffraction. The obtained results unambiguously proved the turbostratic (one-dimensionally disordered) structure of all phases under study. The crystal lattice parameters, sizes of the coherent scattering domains and values of micro-strain have been established which allowed us to find a correlation between structure and stoichiometry of the phases synthesized at the same temperature.
issn 0203-3119
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/63477
citation_txt К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C / А.А. Куракевич, Т. Шово, В.Л. Соложенко // Сверхтвердые материалы. — 2010. — № 4. — С. 9-16. — Бібліогр.: 22 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT kurakevičaa kvoprosuoparametrahkristalličeskoirešetkigrafitopodobnyhfazsistemybc
AT šovot kvoprosuoparametrahkristalličeskoirešetkigrafitopodobnyhfazsistemybc
AT soloženkovl kvoprosuoparametrahkristalličeskoirešetkigrafitopodobnyhfazsistemybc
first_indexed 2025-11-25T03:42:49Z
last_indexed 2025-11-25T03:42:49Z
_version_ 1850505499349352448
fulltext ISSN 0203-3119. Сверхтвердые материалы, 2010, № 4 9 УДК 546.27:539.533 А. А. Куракевич, Т. Шово, В. Л. Соложенко (г. Париж, Франция) К вопросу о параметрах кристаллической решетки графитоподобных фаз системы B—C Описана структура графитоподобных фаз BCx (x = 1, 1,5, 3, 4, 32), изученная методом рентгеновской дифрактометрии. Получены результа- ты, однозначно свидетельствующие о турбостратной (одномерно разупорядо- ченной) структуре всех исследуемых фаз. Определены параметры кристалличе- ской решетки, размеры областей когерентного рассеяния и величины микроде- формации, что позволило провести корреляцию между структурой и составом фаз, синтезированных при одной температуре. Ключевые слова: кристаллическая решетка, графитоподобные фазы, система B—C, рентгеновская дифрактометрия, когерентное рассеяние, микродеформация. ВВЕДЕНИЕ Углерод и бор являются элементами, которые имеют наибо- лее твердые аллотропные модификации [1, 2], обладающие также уникаль- ным набором физико-химических свойств [3—5]. До последнего времени из соединений этих элементов были известны только субкарбиды бора B4C [6], B50C2 [7] и графитоподобные фазы BCx (x = 1,5—19) [8]. Недавний синтез алмазоподобного BC5 [9], а также получение сверхтвердых проводящих ком- позитов на основе фаз системы B—C [10, 11], показали перспективность ис- пользования графитоподобных BCx фаз в качестве исходных для получения новых сверхтвердых материалов и, как следствие, привлекли внимание к изучению этих фаз под давлением [12—15]. Однако многие свойства графи- топодобных фаз системы B—C остаются неизученными даже при нормаль- ных условиях. В настоящее время также не существует единого представле- ния о структуре допированных бором графитоподобных слоев. Предполагае- мые модели включают как случайное, так и упорядоченное замещение ато- мов углерода на атомы бора в плоских графеновых слоях [8, 16]. Ввиду бли- зости атомных факторов рассеяния углерода и бора установить относитель- ное расположение атомов этих элементов в слое по интенсивностям дифрак- ционных линий не представляется возможным. Попытку изучить влияние состава на параметры решетки и дефектность структуры графитоподобных фаз системы B—C предпринимали ранее в [8, 17]. Однако проведенный расчет межслоевого расстояния носил оценочный характер (по положению единственной линии 001), параметр a двумерной кристаллической решетки слоя так и не был определен, а реальная структура фаз была описана в терминах ширины линии на половине высоты (FWHM), которая является сложной функцией как размера областей когерентного рас- сеяния, так и микродеформации решетки [18], и, следовательно, не может © А. А. КУРАКЕВИЧ, Т. ШОВО, В. Л. СОЛОЖЕНКО, 2010 www.ism.kiev.ua; www.rql.kiev.ua/almaz_j 10 однозначно характеризовать концентрацию дефектов в структуре. Тем не менее, была установлена немонотонная зависимость межслоевых расстояний от концентрации бора в графитоподобной решетке и показано, что межслое- вое расстояние зависит не только от состава, но и от температуры синтеза [8, 17]. В настоящей статье приведены результаты прецизионного определения параметров решетки графитоподобных фаз системы B—C и турбостратного графита (tC), полученных при температуре 1500 К. Реальная структура этих фаз была охарактеризована в терминах линейного размера областей коге- рентного рассеяния и величины относительной микродеформации решетки. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ И РАСЧЕТНЫЕ МЕТОДЫ Графитоподобные BCx фазы (x = 1, 1,5, 3, 4, 32 и ∞) были синтезированы по методике, описанной в [8], осаждением на кварцевую подложку продуктов взаимодействия ацетилена, хлорида бора и водорода при 1500 К. Структурные исследования проводили методом рентгеновской дифракто- метрии на автоматизированном дифрактометре “Seifert MZIII” (излучение CuKα1,2, <λ> = 1,54187 Å) в геометрии Брэгга-Брентано. Гониометр юстиро- вали по эталонному образцу LaB6 (пространственная группа Pm-3m, a = 4,15695 Å [19]). Дифрактограммы снимали с шагом 0,04°град (2θ) при времени накопления 30—120 с. Использование образцов в виде тонких (~ 0,1 мм) пластинок позволило избежать погрешностей, связанных с погло- щением рентгеновских лучей в образце. Положения и уширения FWHM симметричных линий 00l на дифракто- граммах определяли путем подгонки профиля линии к функции Пирсона методом последовательных приближений, реализованным с помощью про- граммы DatLab. Положение несиметричных hk0 линий и размеры областей когерентного рассеяния определяли путем подгонки профиля линии к функ- ции Уоррена [20]: )( )(sin2 2cos1 2/1 2/3 2 aFLAI a ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜⎜ ⎝ ⎛ λπθ θ+= , (1) где I — интенсивность рассеянного излучения; )sin)(sin/2( 0θ−θλπ= La ; La — размер области когерентного рассеяния вдоль кристаллографических осей a и b; θ0 — положение пика; λ — используемая длина волны; A — коэф- фициент пропорциональности; dxaxaF ∫ ∞ −−= 0 22 ])(exp[)( . Подгонку экспе- риментального профиля линии к уравнению (1) проводили с использованием симплексного метода для поиска решений (прямой поиск), реализованного с помощью программы MatLab. Поправки на нулевое смещение z0 (в единицах 2θ) и смещение образца от плоскости дифракции d0 (в единицах 2θ) учитывали по формуле 2θ = 2θэксп – z0 – d0cosθ. Величину z0 определяли по смещениям линий эталонного образца LaB6, в то время как параметр d0 определяли совместно с параметрами ре- шетки исследуемых фаз с использованием программы U-Fit. Размеры областей когерентного рассеяния Lc и микродеформации εc в на- правлении оси c были рассчитаны с помощью формулы Вагнера-Аквы [18], связывающей уширение линии и ее угловое (2θ) положение на дифракто- грамме: ISSN 0203-3119. Сверхтвердые материалы, 2010, № 4 11 2 000 2 2 16 sintg 2 tg )2( c cL K ε+⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜⎜ ⎝ ⎛ θθ θδλ= θ θδ , (2) где K = 0,91. Данная модель предполагает, что уменьшение размера областей когерентного рассеяния приводит к уширению лоренцевской составляющей профиля линии, в то время как увеличение доли микродеформаций — к уши- рению гауссовской составляющей профиля линии [18]. Расчет параметров уравнения (2) проводили с помощью метода наименьших квадратов (MatLab). В качестве уширений δ2θ использовали экспериментальные значения FWHM (δэксп2θ) с учетом поправок по формуле δ2θ = δэксп2θ – δинст2θ – δKα2θ, где δинст2θ — инструментальное уширение, определенное с помощью эталонного образца LaB6, а δKα2θ — уширение, которое для широких рефлексов изучае- мых турбостратных фаз равно величине расщепления (в единицах 2θ) соот- ветствующего межслоевого отражения в дублет, обусловленный наличием двух длин волн (CuKα1 и CuKα2). Для сравнения с результатами предшествующих работ величина Lc также была оценена по уравнению Шерера [18]: θ λ=θδ cos 2 cL K . (3) РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ Кристаллическая структура графитоподобных фаз системы B—C хорошо описывается моделью турбостратной (одномерно разупорядоченной) слои- стой решетки (random layer lattice), предложенной Уорреном [20]. В рамках этой модели кристаллическая решетка характеризуется двумя параметрами: параметром a двумерной кристаллической решетки слоя и параметром с, соответствующим межслоевому расстоянию. Вследствие отсутствия корре- ляции во взаимном расположении атомов разных слоев на дифрактограммах турбостратных структур наблюдаются только отражения отдельных слоев hk0 и межслоевые отражения 00l. Все hkl рефлексы, для которых |h| + |k| ≠ 0, l ≠ 0, имеют нулевую интенсивность [20]. Параметр решетки c рассчитывали по симметричным линиям 001 и 002 (табл. 1), параметр a — по асимметричным линиям 10 и 11 (табл. 2). Дифрак- тограммы турбостратных фаз BCx составов x = 3, 4, 32 и турбостратного гра- фита (x = ∞) свидетельствуют об их сильной текстурированности, что следует из ярко выраженной зависимости относительных интенсивностей линий 00l и hk0 от ориентации образца в рентгеновском пучке (рис. 1, б). В этом случае параметры a и c рассчитывали по двум дифрактограммам, снятым при разных ориентациях образца по отношению к плоскости дифракции. Отсутствие текстуры наблюдали в случае образцов с большим содержанием бора (x = 1 и 1,5) (рис. 1, а), что позволяло рассчитать оба параметра решетки из одной дифрактограммы. Асимметричные профили hk0 отражений хорошо подгоня- лись к функции Уоррена [20] (рис. 2), в то время как симметричные профили линий 00l — к функции Пирсона. Рассчитанные значения параметра a двумерной кристаллической решетки графенового слоя и межслоевого расстояния c приведены в табл. 1 и 2. Сред- ние линейные размеры областей когерентного рассеяния вдоль оси a состав- ляют La = 5—15 Å, что соответствует 2—20 шестиугольникам из атомов B и C. Следует отметить, что La увеличивается с увеличением содержания бора и www.ism.kiev.ua; www.rql.kiev.ua/almaz_j 12 Таблица 1. Параметры c кристаллической решетки, размеры областей когерентного рассеяния Lc и относительные микродеформации структуры εc турбостратных фаз системы B—C По Шереру По Вагнеру-Аква Фаза 2θ (001; 002) FWHM (001; 002) c d0 Lc, Å Lc, Å εc, % BC 25,967; 53,674 1,47; 1,57 3,4031 –0,16 661; 762 ~ 63 ~ 0,40 BC1,5 25,674; 53,016 1,46; 2,72 3,4428 –0,14 671; 382 166 1,77 BC3 25,650; 53,047 1,31; 2,63 3,4373 –0,21 761; 402 359 1,84 BC4 26,086; 53,532 0,78; 1,49 3,4286 0,17 1481; 662 450 0,86 BC32 26,109; 53,878 1,40; 2,75 3,3956 –0,07 701; 412 139 1,55 C 25,471; 52,908 4,08; 5,06 3,4347 –0,41 211; 162 24 2,75 1 Расчет проведен по уширению линии 001. 2 Расчет проведен по уширению линии 002. Таблица 2. Параметры a кристаллической решетки и размеры областей когерентного рассеяния La турбостратных фаз системы B—C Фаза 2θ (10; 11) d0 a La, Å (по Уоррену) BC 42,341; — –0,161 2,45312 152 BC1,5 42,422; — 2,45352,4 142,4 BC3 42,235; 77,143 0,13 2,4738 155, 93 BC4 42,416; 77,084 0,51 2,4834 132 BC32 42,267; 77,375 –0,01 2,4645 6,22; 4,93 C 42,665; 78,198 –0,01 2,4427 5,82; 4,53 1 Параметр рассчитан по положениям линий 001 и 002. 2 Параметр рассчитан по профилю линии 10. 3 Параметр рассчитан по профилю линии 11. 4 Параметр рассчитан по данным энерго-дисперсионной дифрактометрии с использовани- ем синхротронного излучения. 5 Параметр найден методом проб и ошибок. достигает постоянной величины (~ 15 Å) в области составов х = 3—4. Резуль- таты расчета линейных размеров областей когерентного рассеяния вдоль оси c (Lc) с помощью уравнения Шерера (3) оказались не столь однозначными: значения, рассчитанные из уширения линий 001, примерно в два раза превы- шают соответствующие значения, рассчитанные из уширения линий 002. Подобный эффект был отмечен еще в ранних работах Франклин для турбост- ратного графита [21] и, по-видимому, связан с тем, что уширение линий обу- словлено не только размером областей когерентного рассеяния (как это пред- полагается в рамках уравнения Шерера, применимого только в случае иде- альной структуры или протяженных дефектов, которые являются границами кристаллитов [18]), но и микродеформациями структуры (точечные дефекты или систематическое смещение групп атомов от идеальных положений в решетке). ISSN 0203-3119. Сверхтвердые материалы, 2010, № 4 13 40 42 44 46 48 50 52 54 56 58 60 BC 00 2 00 1 2θ (CuKα) а 20 25 30 35 40 45 50 55 60 40 50 60 70 80 90 00 2 BC 3 00 1 11 10 2θ (CuKα) б Рис. 1. Дифрактограммы образца tBC (а) и текстурированного образца tBC3 (дифракто- граммы на рисунке и врезке соответствуют взаимоперпендикулярным ориентациям образ- ца по отношению к плоскости дифракции) (б). 70 75 80 85 90 2θ (CuKα) BC 3 Рис. 2. Линия 11 на дифрактограмме tBC3 (квадраты — экспериментальные точки, сплош- ная кривая — результат подгонки профиля линии к функции Уоррена). Значения Lc, рассчитанные по формуле (2), имеют максимум при содер- жании бора, соответствующем х = 3—4. Величина относительной деформа- ции структуры вдоль оси c составляет εc = 1—3 % и имеет минимум в той же концентрационной области. Подобный характер зависимостей Lc и εc от со- става свидетельствует о существовании в области составов х = 4—5 фаз с относительно упорядоченной межслоевой структурой, в то время как сильное (почти в три раза) увеличение La с возрастанием содержания бора свидетель- ствует об упорядочивающем влиянии бора на графеновые слои. Параметры кристаллической решетки турбостратных фаз BCx различного состава представлены на рис. 3. Концентрационная зависимость параметра a имеет экстремальный характер с максимумом при ~ 15 % (ат.) бора (состав, близкий к стехиометрии BC5). Концентрационная зависимость параметра с имеет противоположный характер: с ростом содержания бора за первона- чальным уменьшением межслоевого расстояния следует его рост с максиму- мом при составе BC1,5. Подобная зависимость параметра c от состава свиде- тельствует о сильном влиянии внедренных в графитные слои атомов бора на www.ism.kiev.ua; www.rql.kiev.ua/almaz_j 14 структуру образующихся фаз. Так, в отличие от упорядоченного графита, в котором внедрение атомов бора в решетку приводит к уменьшению парамет- ра c [22], для турбостратных фаз увеличение концентрации бора приводит к прямо противоположному эффекту, который можно объяснить либо ослабле- нием ван-дер-ваальсовых связей между допированными графеновыми слоями (ковалентный радиус бора слишком велик для того, чтобы можно было пред- положить интеркаляцию атомов бора), либо частичной гофрировкой слоев. 3,38 3,40 3,42 3,44 3,46 BC BC 1.5BC 3 BC 4 BC 32 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 2,44 2,45 2,46 2,47 2,48 2,49 C Атомная доля бора a c Рис. 3. Зависимость параметров кристаллической решетки турбостратных фаз BCx от содержания бора. Установленная в данной работе концентрационная зависимость структур- ных параметров, по-видимому, является универсальной для серий графито- подобных фаз BCx, полученных при одинаковой температуре. Аналогичные концентрационные зависимости наблюдали, например, для модулей сжимае- мости графитоподобных фаз системы B—C [15]. ВЫВОДЫ Методом рентгеновской дифрактометрии определены параметры кристал- лической решетки, линейные размеры областей когерентного рассеяния и микродеформация структуры турбостратных графитоподобных фаз системы B—C различного состава, полученных при одной температуре, и показано, что соответствующие концентрационные зависимости имеют явно выражен- ный немонотонный характер. ISSN 0203-3119. Сверхтвердые материалы, 2010, № 4 15 Авторы благодарны д-ру А. Дерре (A. Derré) за любезно предоставленные образцы графитоподобных фаз системы B—C, а также выражают призна- тельность Agence Nationale de la Recherche за финансовую поддержку (грант ANR-05-BLAN-0141). Описано структуру графітоподібних фаз BCx (x = 1, 1,5, 3, 4, 32), ви- вчену методом рентгенівської дифрактометрії. Отримано результати, що однозначно засвідчують турбостратну (одномірно розупорядковану) структуру всіх досліджених фаз. Визначено параметри кристалічної ґратки, розміри областей когерентного розсію- вання і величини мікродеформації, що дозволило провести кореляцію між структурою і складом фаз, синтезованих при одній температурі. Ключові слова: кристалічна ґратка, графіитоподібні фази, система B—C, рентгенівська дифрактометрія, когерентне розсіювання, мікродеформація. The structure of graphite-like BCx phases (x = 1, 1,5, 3, 4, 32) has been stud- ied using conventional X-ray diffraction. The obtained results unambiguously proved the turbostratic (one-dimensionally disordered) structure of all phases under study. The crystal lattice parameters, sizes of the coherent scattering domains and values of micro-strain have been established which allowed us to find a correlation between structure and stoichiometry of the phases synthesized at the same temperature. Key words: X-ray diffraction, B—C system, graphite-like phases, turbostratic structure. 1. Novikov N. V., Dub S. N. Fracture toughness of diamond single crystals // J. Hard Mater. — 1991. — 2, N 1—2. — P. 3—11. 2. Solozhenko V. L., Kurakevych O. O., Oganov, A. R. On the hardness of a new boron phase, orthorhombic γ-B28 // J. Superhard Mater. — 2008. — 30, N 6. — P. 428—429. 3. Oganov A. R., Chen J., Gatti C. et al. Ionic high-pressure form of elemental boron // Nature. — 2009. — 457, N 7231. — P. 863—867. 4. Kurakevych O. O. Superhard phases of simple substances and binary compounds of the B— C—N—O system: from diamond to the latest results (A Review) // J. Superhard Mater. — 2009. — 31, N 3. — P. 139—157. 5. Oganov A. R., Solozhenko V. L. Boron: a hunt for superhard polymorphs // Ibid. — 2009. — 31, N 5. — P. 285—291 6. Thevenot F. Boron carbide — a comprehensive review // J. Europ. Ceram. Soc. — 1990. — 6, N 4. — P. 205—225. 7. Ploog K., Schmidt H., Amberger E. et al. B48B2C2 and B48B2N2, two non-metal borides with structure of so-called I-tetragonal boron // J. Less Comm. Met. — 1972. — 29, N 2. — P. 161—169. 8. Shirasaki T., Derré A., Menetrier M. et al. Synthesis and characterization of boron-substituted carbons // Carbon. — 2000. — 38, N 10. — P. 1461—1467. 9. Solozhenko V. L., Kurakevych O. O., Andrault D., et al. Ultimate metastable solubility of boron in diamond: Synthesis of superhard diamond-like BC5 // Phys. Rev. Lett. — 2009. — 102, N 6. — P. 015506. 10. Solozhenko V. L., Dubrovinskaia N. A., Dubrovinsky L. S. Synthesis of bulk superhard semi- conducting B—C material // Appl. Phys. Lett. — 2004. — 85, N 9. — P. 1508—1510. 11. Solozhenko V. L., Kurakevych O. O., Dubrovinskaya N. A. et al. Synthesis of superhard com- posites in the B—C system // J. Superhard Mater. — 2006. — 28, N 5. — P. 1—6. 12. de Resseguier T., Solozhenko V. L., Petitet J. P. et al. Transformations of graphitelike B—C phases under dynamic laser-driven pressure loading // Phys. Rev. B. — 2009. — 79, N 14. — P. 144105. 13. Solozhenko V. L., Kurakevych O. O., Kuznetsov A. Y. Raman scattering from turbostratic graphite-like BC4 under pressure // J. Appl. Phys. — 2007. — 102, N 6. — P. 063509. 14. Solozhenko V. L., Kurakevych O. O., Solozhenko E. G. et al. Equation of state of graphite-like BC // Solid State Comm. — 2006. — 137, N 5. — P. 268—271. 15. Kurakevych O. O., Solozhenko E. G., Solozhenko V. L. High-pressure study of graphite-like B—C phases // High Press. Res. — 2009. — 29, N 4. — P. 605—611. www.ism.kiev.ua; www.rql.kiev.ua/almaz_j 16 16. Wang Q., Chen L. Q., Annett J. F. Stability and charge transfer of C3B ordered structures // Phys. Rev. B. — 1996. — 54, N 4. — P. 2271—2275. 17. Ottaviani B., Derre A., Grivei E. et al. Boronated carbons: structural characterization and low temperature physical properties of disordered solids // J. Mater. Chem. — 1998. — 8, N 1. — P. 197—203. 18. Klug H. P., Alexander L. E. X-ray diffraction procedures. — New York: John Wiley & Sons, 1974. — 966 р. 19. Standard reference material 660. — Gaithersburgh, MD, USA: National Institute of Stan- dards & Technology (U.S.), 1989. — 29 p. 20. Warren B. E. X-ray diffraction in random layer lattices // Phys. Rev. — 1941. — 5, N 9. — P. 693—698. 21. Franklin R. E. The structure of graphitic carbons // Acta Crystallogr. — 1951. — 4, N 3. — P. 253—261. 22. Hishiyama Y., Irumano H., Kaburagi Y. Structure, Raman scattering, and transport properties of boron-doped graphite // Phys. Rev. B. — 2001. — 63, N 24. — P. 245406. LPMTM-CNRS, Université Paris Nord Поступила 16.02.2010 IMPMC, Université P&M Curie