О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники

Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2003
1. Verfasser: Федухин, А.В.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2003
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862542937256099840
author Федухин, А.В.
author_facet Федухин, А.В.
citation_txt О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
collection DSpace DC
description Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации.
first_indexed 2025-11-24T21:03:25Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-6388
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1817-9908
language Russian
last_indexed 2025-11-24T21:03:25Z
publishDate 2003
publisher Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
record_format dspace
spelling Федухин, А.В.
2010-03-02T10:11:51Z
2010-03-02T10:11:51Z
2003
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
1817-9908
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388
621.382-192
Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации.
ru
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
Article
published earlier
spellingShingle О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
Федухин, А.В.
title О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_full О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_fullStr О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_full_unstemmed О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_short О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_sort о влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388
work_keys_str_mv AT feduhinav ovliâniitemperaturynaharakterdegradacionnoikartinyizdeliiélektronnoitehniki