О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации....
Збережено в:
| Дата: | 2003 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2003
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862542937256099840 |
|---|---|
| author | Федухин, А.В. |
| author_facet | Федухин, А.В. |
| citation_txt | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| description | Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации.
|
| first_indexed | 2025-11-24T21:03:25Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-6388 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1817-9908 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-24T21:03:25Z |
| publishDate | 2003 |
| publisher | Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Федухин, А.В. 2010-03-02T10:11:51Z 2010-03-02T10:11:51Z 2003 О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 1817-9908 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388 621.382-192 Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации. ru Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники Article published earlier |
| spellingShingle | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники Федухин, А.В. |
| title | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_full | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_fullStr | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_full_unstemmed | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_short | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_sort | о влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388 |
| work_keys_str_mv | AT feduhinav ovliâniitemperaturynaharakterdegradacionnoikartinyizdeliiélektronnoitehniki |