О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники

Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации....

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2003
Main Author: Федухин, А.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2003
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-6388
record_format dspace
fulltext
spelling nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-63882025-02-23T19:54:54Z О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники Федухин, А.В. Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации. 2003 Article О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 1817-9908 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388 621.382-192 ru application/pdf Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации.
format Article
author Федухин, А.В.
spellingShingle Федухин, А.В.
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
author_facet Федухин, А.В.
author_sort Федухин, А.В.
title О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_short О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_full О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_fullStr О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_full_unstemmed О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
title_sort о влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
publisher Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
publishDate 2003
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388
citation_txt О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT feduhinav ovliâniitemperaturynaharakterdegradacionnojkartinyizdelijélektronnojtehniki
first_indexed 2025-11-24T21:03:25Z
last_indexed 2025-11-24T21:03:25Z
_version_ 1849707153767530496