Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат. It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked...
Gespeichert in:
| Datum: | 2006 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2006
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6449 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат / В.А. Романов, И.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 133-140. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат.
It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked with virtual evaluation board.
|
|---|---|
| ISSN: | 1817-9908 |