Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат

Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат. It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2006
Hauptverfasser: Романов, В.А., Галелюка, И.Б.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2006
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6449
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат / В.А. Романов, И.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 133-140. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-6449
record_format dspace
spelling Романов, В.А.
Галелюка, И.Б.
2010-03-04T10:48:49Z
2010-03-04T10:48:49Z
2006
Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат / В.А. Романов, И.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 133-140. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
1817-9908
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6449
381.3
Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат.
It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked with virtual evaluation board.
ru
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
Methods of perfecting of performances of microelectronic components and analysis of their efficiency with virtual evaluation boards
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
spellingShingle Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
Романов, В.А.
Галелюка, И.Б.
title_short Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
title_full Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
title_fullStr Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
title_full_unstemmed Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
title_sort методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
author Романов, В.А.
Галелюка, И.Б.
author_facet Романов, В.А.
Галелюка, И.Б.
publishDate 2006
language Russian
publisher Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
format Article
title_alt Methods of perfecting of performances of microelectronic components and analysis of their efficiency with virtual evaluation boards
description Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат. It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked with virtual evaluation board.
issn 1817-9908
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6449
citation_txt Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат / В.А. Романов, И.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 133-140. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT romanovva metodysoveršenstvovaniâparametrovmikroélektronnyhkomponentovianalizihéffektivnostispomoŝʹûvirtualʹnyhocenočnyhplat
AT galelûkaib metodysoveršenstvovaniâparametrovmikroélektronnyhkomponentovianalizihéffektivnostispomoŝʹûvirtualʹnyhocenočnyhplat
AT romanovva methodsofperfectingofperformancesofmicroelectroniccomponentsandanalysisoftheirefficiencywithvirtualevaluationboards
AT galelûkaib methodsofperfectingofperformancesofmicroelectroniccomponentsandanalysisoftheirefficiencywithvirtualevaluationboards
first_indexed 2025-12-07T15:57:11Z
last_indexed 2025-12-07T15:57:11Z
_version_ 1850865647534211072