Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат

• Date: 2006
• Main Authors: Романов, В.А., Галелюка, И.Б.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2006
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6449
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат / В.А. Романов, И.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 133-140. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат. It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked...