Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП
Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно в...
Saved in:
| Date: | 2007 |
|---|---|
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2007
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6487 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП / В.О. Романов, І.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2007. — № 6. — С. 52-60. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-6487 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Романов, В.О. Галелюка, І.Б. 2010-03-04T14:35:23Z 2010-03-04T14:35:23Z 2007 Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП / В.О. Романов, І.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2007. — № 6. — С. 52-60. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. 1817-9908 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6487 381.3 Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно використовувати віртуальні засоби тестування та оцінювання їх параметрів. In the article it is listed the microelectronic high-speed ADC parameters, which have to be tested and evaluated. It is shown, that at the manufacture it is expediently to use complicated and expensive equipments to evaluate parameters of high-speed ADC. But during designing of new devices on the base of high-speed ADC it is appropriate to use virtual tools for ADC parameters evaluating. uk Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП High speed ADC testing and evaluation Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
| spellingShingle |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП Романов, В.О. Галелюка, І.Б. |
| title_short |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
| title_full |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
| title_fullStr |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
| title_full_unstemmed |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
| title_sort |
тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих ацп |
| author |
Романов, В.О. Галелюка, І.Б. |
| author_facet |
Романов, В.О. Галелюка, І.Б. |
| publishDate |
2007 |
| language |
Ukrainian |
| publisher |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
High speed ADC testing and evaluation |
| description |
Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно використовувати віртуальні засоби тестування та оцінювання їх параметрів.
In the article it is listed the microelectronic high-speed ADC parameters, which have to be tested and evaluated. It is shown, that at the manufacture it is expediently to use complicated and expensive equipments to evaluate parameters of high-speed ADC. But during designing of new devices on the base of high-speed ADC it is appropriate to use virtual tools for ADC parameters evaluating.
|
| issn |
1817-9908 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6487 |
| citation_txt |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП / В.О. Романов, І.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2007. — № 6. — С. 52-60. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
| work_keys_str_mv |
AT romanovvo testuvannâtaocínûvannâparametrívšvidkodíûčihacp AT galelûkaíb testuvannâtaocínûvannâparametrívšvidkodíûčihacp AT romanovvo highspeedadctestingandevaluation AT galelûkaíb highspeedadctestingandevaluation |
| first_indexed |
2025-12-02T12:12:44Z |
| last_indexed |
2025-12-02T12:12:44Z |
| _version_ |
1850862495414091776 |