Разработка отечественного интеллектуального прибора „электронный нос”

Досліджуються та аналізуються вплив різних допантів, умов отримання та обробки на чутливість і селективність плівок нанокристалічного матеріалу діоксид олова. Показана можливість виготовлення матричних напівпровідникових датчиків для створення приладу «електронний ніс». Исследуются и анализируются в...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2009
Main Authors: Войтович, И.Д., Лукаш, С.И., Панов, Э.В., Генкина, Е.А., Малеваный, С.М., Глущак, Т.С.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2009
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6515
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Разработка отечественного интеллектуального прибора ”электронный нос” / И.Д. Войтович, С.И. Лукаш, Э.В. Панов, Е.А. Генкина, С.М. Малеваный, Т.С. Глущак // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2009. — № 8. — С. 155-163. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Досліджуються та аналізуються вплив різних допантів, умов отримання та обробки на чутливість і селективність плівок нанокристалічного матеріалу діоксид олова. Показана можливість виготовлення матричних напівпровідникових датчиків для створення приладу «електронний ніс». Исследуются и анализируются влияние разных допантов и условий получения на чувствительность и селективность пленок нанокри-сталлического материала диоксид олова. Показана возможность изготовления матричных полупроводниковых датчиков для создания прибора «электронный нос». Influence of different doses of alloying elements, terms of receipt and treatment on sensitivity and selectivity of thin films of nanocristalic material dioxide tin is analyzed. Possibility of manufacture of matrix semiconductor sensors for creation of device of «electronic nose» is shown.
ISSN:1817-9908