RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия

Исследовали влияние оксианионов ванадия на геном сои (Glycine max L., Merr.) в устойчивой к вольфраму (WR) клеточной линии. WR-линия показывает перекрестную устойчивость к оксианионам V⁵⁺. Установлено наличие одинаковых по размеру RAPD-ампликонов, дифференциально синтезируемых с ДНК исходного каллус...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Цитология и генетика
Дата:2009
Автори: Тищенко, Е.Н., Михальская, С.И., Сергеева, Л.Е.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут клітинної біології та генетичної інженерії НАН України 2009
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/66652
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия / Е.Н. Тищенко, С.И. Михальская, Л.Е. Сергеева // Цитология и генетика. — 2009. — Т. 43, № 3. — С. 39-44. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-66652
record_format dspace
spelling Тищенко, Е.Н.
Михальская, С.И.
Сергеева, Л.Е.
2014-07-20T07:03:09Z
2014-07-20T07:03:09Z
2009
RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия / Е.Н. Тищенко, С.И. Михальская, Л.Е. Сергеева // Цитология и генетика. — 2009. — Т. 43, № 3. — С. 39-44. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
0564-3783
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/66652
57.085.23:575.22:582.736.3
Исследовали влияние оксианионов ванадия на геном сои (Glycine max L., Merr.) в устойчивой к вольфраму (WR) клеточной линии. WR-линия показывает перекрестную устойчивость к оксианионам V⁵⁺. Установлено наличие одинаковых по размеру RAPD-ампликонов, дифференциально синтезируемых с ДНК исходного каллуса и WR-линии, которая последовательно культивируется в присутствии летальных доз оксианионов W⁶⁺ и V⁵⁺. Предположено, что в геноме сои имеются локусы, повышенная нестабильность которых обусловлена действием разных стрессоров.
Вивчали вплив оксианіонів ванадію на геном сої (Glycine max L., Merr.) у стійкої до вольфраму (WR) клітинної лінії. Така лінія показує стійкість до оксианіонів V⁵⁺. Встановлено наявність однакових за розміром RAPD-ампліконів, які диференційно синтезуються з ДНК вихідного калюсу та WR-лінії, що послідовно культивується у присутності летальних доз оксианіонів W⁶⁺ і V⁵⁺. Припущено, що в геномі сої є локуси, підвищена нестабільність яких обумовлена дією різних стресорів.
The effect of vanadium oxyanions on genome of soybean (Glycine max L., Merr.) in tungsten-resistant cell line was studied. The line is resistant to V⁵⁺-oxyanions. RAPD-amplicons with identical length are differentially synthesized from DNAs of tungsten-resistant cell line as well as of the initial culture was shown by using the lethal dose of oxyanions W⁶⁺ and then V⁵⁺. The presence of instable loci in soybean genome under different stressors is discussed.
ru
Інститут клітинної біології та генетичної інженерії НАН України
Цитология и генетика
Оригинальные работы
RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия
RAPD-аналіз клітинної лінії сої з перехресною стійкістю до оксианіонів вольфраму та ванадію
RAPD-analysis of soybean cell line with cross-resistance to tungstem and vanadium oxyanions
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия
spellingShingle RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия
Тищенко, Е.Н.
Михальская, С.И.
Сергеева, Л.Е.
Оригинальные работы
title_short RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия
title_full RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия
title_fullStr RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия
title_full_unstemmed RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия
title_sort rapd-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия
author Тищенко, Е.Н.
Михальская, С.И.
Сергеева, Л.Е.
author_facet Тищенко, Е.Н.
Михальская, С.И.
Сергеева, Л.Е.
topic Оригинальные работы
topic_facet Оригинальные работы
publishDate 2009
language Russian
container_title Цитология и генетика
publisher Інститут клітинної біології та генетичної інженерії НАН України
format Article
title_alt RAPD-аналіз клітинної лінії сої з перехресною стійкістю до оксианіонів вольфраму та ванадію
RAPD-analysis of soybean cell line with cross-resistance to tungstem and vanadium oxyanions
description Исследовали влияние оксианионов ванадия на геном сои (Glycine max L., Merr.) в устойчивой к вольфраму (WR) клеточной линии. WR-линия показывает перекрестную устойчивость к оксианионам V⁵⁺. Установлено наличие одинаковых по размеру RAPD-ампликонов, дифференциально синтезируемых с ДНК исходного каллуса и WR-линии, которая последовательно культивируется в присутствии летальных доз оксианионов W⁶⁺ и V⁵⁺. Предположено, что в геноме сои имеются локусы, повышенная нестабильность которых обусловлена действием разных стрессоров. Вивчали вплив оксианіонів ванадію на геном сої (Glycine max L., Merr.) у стійкої до вольфраму (WR) клітинної лінії. Така лінія показує стійкість до оксианіонів V⁵⁺. Встановлено наявність однакових за розміром RAPD-ампліконів, які диференційно синтезуються з ДНК вихідного калюсу та WR-лінії, що послідовно культивується у присутності летальних доз оксианіонів W⁶⁺ і V⁵⁺. Припущено, що в геномі сої є локуси, підвищена нестабільність яких обумовлена дією різних стресорів. The effect of vanadium oxyanions on genome of soybean (Glycine max L., Merr.) in tungsten-resistant cell line was studied. The line is resistant to V⁵⁺-oxyanions. RAPD-amplicons with identical length are differentially synthesized from DNAs of tungsten-resistant cell line as well as of the initial culture was shown by using the lethal dose of oxyanions W⁶⁺ and then V⁵⁺. The presence of instable loci in soybean genome under different stressors is discussed.
issn 0564-3783
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/66652
citation_txt RAPD-анализ клеточных линий сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия / Е.Н. Тищенко, С.И. Михальская, Л.Е. Сергеева // Цитология и генетика. — 2009. — Т. 43, № 3. — С. 39-44. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT tiŝenkoen rapdanalizkletočnyhliniisoisperekrestnoiustoičivostʹûkoksianionamvolʹframaivanadiâ
AT mihalʹskaâsi rapdanalizkletočnyhliniisoisperekrestnoiustoičivostʹûkoksianionamvolʹframaivanadiâ
AT sergeevale rapdanalizkletočnyhliniisoisperekrestnoiustoičivostʹûkoksianionamvolʹframaivanadiâ
AT tiŝenkoen rapdanalízklítinnoílíníísoízperehresnoûstíikístûdooksianíonívvolʹframutavanadíû
AT mihalʹskaâsi rapdanalízklítinnoílíníísoízperehresnoûstíikístûdooksianíonívvolʹframutavanadíû
AT sergeevale rapdanalízklítinnoílíníísoízperehresnoûstíikístûdooksianíonívvolʹframutavanadíû
AT tiŝenkoen rapdanalysisofsoybeancelllinewithcrossresistancetotungstemandvanadiumoxyanions
AT mihalʹskaâsi rapdanalysisofsoybeancelllinewithcrossresistancetotungstemandvanadiumoxyanions
AT sergeevale rapdanalysisofsoybeancelllinewithcrossresistancetotungstemandvanadiumoxyanions
first_indexed 2025-12-07T19:01:16Z
last_indexed 2025-12-07T19:01:16Z
_version_ 1850877229748191232