Метрология интеллектуальных систем - Анцыферов, С.С. (Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2008)
В статье рассмотрены системные принципы метрологического обеспечения проектирования
систем с элементами искусственного интеллекта. Структурно-стохастический принцип аппроксимации
информации пространственно-временных полей обеспечивает преодоление существенной априорной
неопределенности и высокие метрологические показатели по скорости адаптации, достоверности и
устойчивости результатов. У статті розглянуті системні принципи метрологічного забезпечення проектування систем з елементами
штучного інтелекту. Структурно-стохастичний принцип апроксимації інформації просторово-часових полів
забезпечує подолання істотної апріорної невизначеності і високі метрологічні показники швидкості адаптації,
достовірності і стійкості результатів. The system principles of metrological assurance of intellectual systems designing, i.e. the systems with
elements of an artificial intelligence are considered. The structurally-stochastic principle of approximation
ensures overcoming of essential a priori indeterminacy and assures high metrology parameters on a velocity
of adaptation, reliability of results.