Спин-волновой резонанс и его поверхностная мода в пленке манганита

• Veröffentlicht in: Физика и техника высоких давлений
• Datum: 2010
• ISSN: 0868-5924
• 1. Verfasser: Шаповалов, В.А.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2010
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/69262
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Спин-волновой резонанс и его поверхностная мода в пленке манганита / В.А. Шаповалов // Физика и техника высоких давлений. — 2010. — Т. 20, № 1. — С. 56-61. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Обнаружено, что спектр спин-волнового резонанса (СВР), как правило, содержит поверхностную моду, которая не зависит от проводимости материала пленки. Показано, что положение, интенсивность и форма этой моды трансформируются относительно однородной моды при изменении напряженного состояния пленки. По смещению резонансных полей под действием механического напряжения определены константы магнитострикции пленки и ее поверхностного слоя. Последний является более магниточувствительным по сравнению с объемом пленки, так как его константа магнитострикции λs больше константы магнитострикции пленки λf. Виявлено, що спектр спин-хвильового резонансу (СХР), як правило, містить поверхневу моду, що не залежить від провідності матеріалу плівки. Показано, що положення, інтенсивність і форма цієї моди трансформуються щодо однорідної моди при зміні напруженого стану плівки. По зсуву резонансних полів під дією механічної напруги визначено константи магнітострикції плівки і поверхневого шару. Останній є більш магнiточутливим у порівнянні з обсягом плівки, тому що його константа магнітострикції λs більше константи магнітострикції плівки λf. It has been determined that the spin-wave resonance (SWR) spectrum contains, as a rule, the surface mode which does not depend on conduction of film material. It is shown that the position, the intensity and the shape of this mode are transformed with respect to the uniform mode due to changes in the stressed state of the film. Constants of the film and surface layer magnetostriction have been determined by the displacement of resonance fields under the action of mechanical stress. The surface layer is more sensitive to magnetism than volume of the film since its magnetostriction constant λs is larger than that of the film λf.