Влияние сверхстехиометрического марганца на структуру и магниторезистивные свойства манганитоперовскитов (Pr0.7Sr0.3)1-xMn1+xO3±δ
Рентгеноструктурным, резистивным, магнитным и магниторезистивным методами исследовали влияние сверхстехиометрического марганца на структуру и свойства керамических манганитоперовскитов (Pr0.7Sr0.3)1–xMn1+xO3±δ (x = 0–0.2). Установлены закономерности влияния х на параметр ромбоэдрической ( R3c ) перо...
Saved in:
| Date: | 2010 |
|---|---|
| Main Author: | Пащенко, А.В. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2010
|
| Series: | Физика и техника высоких давлений |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/69276 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Влияние сверхстехиометрического марганца на структуру и магниторезистивные свойства манганитоперовскитов (Pr0.7Sr0.3)1-xMn1+xO3±δ / А.В. Пащенко // Физика и техника высоких давлений. — 2010. — Т. 20, № 2. — С. 42-51. — Бібліогр.: 30 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
-
Влияние сверхстехиометрического марганца на структуру и магниторезистивные свойства манганитоперовскитов (Pr0.7Sr0.3)1-xMn1+xO3±δ
by: Пащенко, А.В.
Published: (2010) -
Structure and electrochemical properties of lithium manganese spinel Li1+xMn2-xO4 (0 < x < 0.5)
by: B. K. Ostafiichuk, et al.
Published: (2012) -
Influence of K+ ions and superstoichiometric manganese on structure defects, magneto-transport and dielectric properties of magnetoresistance La0.7Ca0.3–xKxMn1+xO3–δ ceramics
by: N. A. Ledenev, et al.
Published: (2017) -
Аномальный гистерезис в магниторезистивных керамических и пленочных образцах (La₀,₈Sr₀,₂)₁₋xMn₁₊xO₃ (0≤ х ≤ 0,4)
by: Довгий, В.Т., et al.
Published: (2003) -
Compositional studies of optical parameters in (Ag3AsS3)x(As2S3)1–x (x = 0.3; 0.6; 0.9) thin films
by: I. P. Studenyak, et al.
Published: (2016)