Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии
Применение аналитической электронной микроскопии позволяет более точно определить структуру и химический состав межфазных границ. На образцах слоистого композиционного материала Cu−Nb, полученного методом вакуумной прокатки, и сплавов Ni−Mo и Fe−Cr, полученных методом порошковой металлургии, проведе...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физика и техника высоких давлений |
|---|---|
| Дата: | 2013 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2013
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/69612 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии / Н.И. Даниленко, Ю.Н., В.В. Щиголев // Физика и техника высоких давлений. — 2013. — Т. 23, № 1. — С. 108-115. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862591130419331072 |
|---|---|
| author | Даниленко, Н.И. Подрезов, Ю.Н. Щиголев, В.В. |
| author_facet | Даниленко, Н.И. Подрезов, Ю.Н. Щиголев, В.В. |
| citation_txt | Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии / Н.И. Даниленко, Ю.Н., В.В. Щиголев // Физика и техника высоких давлений. — 2013. — Т. 23, № 1. — С. 108-115. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Физика и техника высоких давлений |
| description | Применение аналитической электронной микроскопии позволяет более точно определить структуру и химический состав межфазных границ. На образцах слоистого композиционного материала Cu−Nb, полученного методом вакуумной прокатки, и сплавов Ni−Mo и Fe−Cr, полученных методом порошковой металлургии, проведен анализ распределения элементов в зоне контакта.
Застосування аналітичної електронної мікроскопії дозволяє точніше визначити структуру та хімічний склад міжфазних границь. На зразках шарового композиційного матеріалу Cu−Nb, отриманого методом вакуумної прокатки, і сплавів Ni−Mo і Fe−Cr, отриманих методом порошкової металургії, проведено аналiз розподілу елементів у зоні контакту.
The method of analytical electronic microscopy was used for the study of interfaces between heterogeneous elements. High locality of quantitative X-ray microanalyse is achieved by the test of thin foils (thickness about 100 nm) and fine electron beam (0.5−15 nm). The transitional area thickness in the layered composite of Cu−Nb was estimated at 2.5 μm by standard X-ray microanalysis of bulk sample. Being carried out on analytical complex JEM-2100F of thin foils, the analysis shows that for a small step between the analyzed points (5−10 nm), the transitional area is ~ 3−5 nm. HR TEM and method of FFT of Cu−Nb interface show that the process of mutual penetration of elements takes place within of a few interplanar spacings. In powder composites of 80Ni–20Mo and 50Fe–50Cr, abnormal high diffusion was detected. Both pairs are characterized by unidirectional diffusion, and more, refractory component has considerably higher diffusive mobility than low-melt one. The results indicate that the interface between contacting elements plays a substantial role in the mechanism of alloy formation under the effect of high deformations. The results presented in paper show that precise studying of interfaces with the use of analytical electron microscopy allows not only increase in locality of the quantitative analysis of distribution of elements in near-interface areas but also considerable advance in understanding of mechanisms of contact formation and diffusion in heterocomponent composites.
|
| first_indexed | 2025-11-27T06:40:25Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-69612 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 0868-5924 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-27T06:40:25Z |
| publishDate | 2013 |
| publisher | Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Даниленко, Н.И. Подрезов, Ю.Н. Щиголев, В.В. 2014-10-17T12:33:59Z 2014-10-17T12:33:59Z 2013 Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии / Н.И. Даниленко, Ю.Н., В.В. Щиголев // Физика и техника высоких давлений. — 2013. — Т. 23, № 1. — С. 108-115. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. 0868-5924 PACS: 61.72.Ss, 61.72.Mm, 81.20.Jr, 83.70.Dk https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/69612 Применение аналитической электронной микроскопии позволяет более точно определить структуру и химический состав межфазных границ. На образцах слоистого композиционного материала Cu−Nb, полученного методом вакуумной прокатки, и сплавов Ni−Mo и Fe−Cr, полученных методом порошковой металлургии, проведен анализ распределения элементов в зоне контакта. Застосування аналітичної електронної мікроскопії дозволяє точніше визначити структуру та хімічний склад міжфазних границь. На зразках шарового композиційного матеріалу Cu−Nb, отриманого методом вакуумної прокатки, і сплавів Ni−Mo і Fe−Cr, отриманих методом порошкової металургії, проведено аналiз розподілу елементів у зоні контакту. The method of analytical electronic microscopy was used for the study of interfaces between heterogeneous elements. High locality of quantitative X-ray microanalyse is achieved by the test of thin foils (thickness about 100 nm) and fine electron beam (0.5−15 nm). The transitional area thickness in the layered composite of Cu−Nb was estimated at 2.5 μm by standard X-ray microanalysis of bulk sample. Being carried out on analytical complex JEM-2100F of thin foils, the analysis shows that for a small step between the analyzed points (5−10 nm), the transitional area is ~ 3−5 nm. HR TEM and method of FFT of Cu−Nb interface show that the process of mutual penetration of elements takes place within of a few interplanar spacings. In powder composites of 80Ni–20Mo and 50Fe–50Cr, abnormal high diffusion was detected. Both pairs are characterized by unidirectional diffusion, and more, refractory component has considerably higher diffusive mobility than low-melt one. The results indicate that the interface between contacting elements plays a substantial role in the mechanism of alloy formation under the effect of high deformations. The results presented in paper show that precise studying of interfaces with the use of analytical electron microscopy allows not only increase in locality of the quantitative analysis of distribution of elements in near-interface areas but also considerable advance in understanding of mechanisms of contact formation and diffusion in heterocomponent composites. ru Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України Физика и техника высоких давлений Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии Studying of interfaces in multicomponent materials with the using of analytical electron microscopy Article published earlier |
| spellingShingle | Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии Даниленко, Н.И. Подрезов, Ю.Н. Щиголев, В.В. |
| title | Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии |
| title_alt | Studying of interfaces in multicomponent materials with the using of analytical electron microscopy |
| title_full | Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии |
| title_fullStr | Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии |
| title_full_unstemmed | Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии |
| title_short | Исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии |
| title_sort | исследование границ раздела многокомпонентных материалов с применением аналитической электронной микроскопии |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/69612 |
| work_keys_str_mv | AT danilenkoni issledovaniegranicrazdelamnogokomponentnyhmaterialovsprimeneniemanalitičeskoiélektronnoimikroskopii AT podrezovûn issledovaniegranicrazdelamnogokomponentnyhmaterialovsprimeneniemanalitičeskoiélektronnoimikroskopii AT ŝigolevvv issledovaniegranicrazdelamnogokomponentnyhmaterialovsprimeneniemanalitičeskoiélektronnoimikroskopii AT danilenkoni studyingofinterfacesinmulticomponentmaterialswiththeusingofanalyticalelectronmicroscopy AT podrezovûn studyingofinterfacesinmulticomponentmaterialswiththeusingofanalyticalelectronmicroscopy AT ŝigolevvv studyingofinterfacesinmulticomponentmaterialswiththeusingofanalyticalelectronmicroscopy |