Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения....
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика и техника высоких давлений |
|---|---|
| Datum: | 2007 |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2007
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70333 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70333 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
2014-11-02T17:26:58Z 2014-11-02T17:26:58Z 2007 Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. 0868-5924 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70333 Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения. ru Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України Физика и техника высоких давлений Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| spellingShingle |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_short |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_full |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_fullStr |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_full_unstemmed |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_sort |
микроскопия «карл цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| publishDate |
2007 |
| language |
Russian |
| container_title |
Физика и техника высоких давлений |
| publisher |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України |
| format |
Article |
| description |
Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения.
|
| issn |
0868-5924 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70333 |
| citation_txt |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. |
| first_indexed |
2025-12-07T20:00:54Z |
| last_indexed |
2025-12-07T20:00:54Z |
| _version_ |
1850880980972208128 |