Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения....
Saved in:
| Published in: | Физика и техника высоких давлений |
|---|---|
| Date: | 2007 |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2007
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70333 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862737731155656704 |
|---|---|
| citation_txt | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Физика и техника высоких давлений |
| description | Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения.
|
| first_indexed | 2025-12-07T20:00:54Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70333 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 0868-5924 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T20:00:54Z |
| publishDate | 2007 |
| publisher | Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | 2014-11-02T17:26:58Z 2014-11-02T17:26:58Z 2007 Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. 0868-5924 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70333 Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения. ru Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України Физика и техника высоких давлений Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий Article published earlier |
| spellingShingle | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_full | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_fullStr | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_full_unstemmed | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_short | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_sort | микроскопия «карл цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70333 |