Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения....
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика и техника высоких давлений |
|---|---|
| Datum: | 2007 |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2007
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70333 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. |