2D−3D crossover of the in-plane paraconductivity in optimal doped ReBa₂Cu₃O₇₋δ (Re = Y, Ho) single crystals

The effect of the fluctuation paraconductivity in optimal oxygen-doped ReBa₂Cu₃O₇₋δ (Re = Y, Ho) single crystals has been investigated. The results indicate that the theoretical model of Aslamazov–Larkin (AL) describes the temperature dependence of fluctuation paraconductivity (FP) near the critical...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физика и техника высоких давлений
Дата:2007
Автори: Vovk, R.V., Obolenskii, M.A., Bondarenko, A.V., Goulatis, I.L., Chroneos, A.I.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2007
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70369
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:2D−3D crossover of the in-plane paraconductivity in optimal doped ReBa₂Cu₃O₇₋δ (Re = Y, Ho) single crystals / R.V. Vovk, M.A. Obolenskii, A.V. Bondarenko, I.L. Goulatis, A.I. Chroneos // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 3. — С. 83-88. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:The effect of the fluctuation paraconductivity in optimal oxygen-doped ReBa₂Cu₃O₇₋δ (Re = Y, Ho) single crystals has been investigated. The results indicate that the theoretical model of Aslamazov–Larkin (AL) describes the temperature dependence of fluctuation paraconductivity (FP) near the critical temperature (Tc). At temperatures above the temperature of the 2D−3D crossover this dependence is appropriately described by the Lawrence–Doniach (LD) theory. The extended linear dependence of ρab(Т), in the crystal with the minimum critical temperature indicates that we have a high defect concentration in this sample. This in turn causes negative processes into forming fluctuation pairs.
ISSN:0868-5924