Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры
Предложено нестандартное устройство на основе полупроводниковых терморезисторов с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления для контактного измерения изменений температуры в установленном диапазоне. Показано влияние количества последовательно включенных термоэлементов на параметры изме...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Дата: | 2014 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2014
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70541 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры / М.Г. Самынина, В.А. Шигимага // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 1. — С. 52-56. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862713375194087424 |
|---|---|
| author | Самынина, М.Г. Шигимага, В.А. |
| author_facet | Самынина, М.Г. Шигимага, В.А. |
| citation_txt | Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры / М.Г. Самынина, В.А. Шигимага // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 1. — С. 52-56. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Предложено нестандартное устройство на основе полупроводниковых терморезисторов с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления для контактного измерения изменений температуры в установленном диапазоне. Показано влияние количества последовательно включенных термоэлементов на параметры измерительной системы, исследованы ее метрологические характеристики.
Запропоновано нестандартний пристрій на основі напівпровідникових терморезисторів з негативним температурним коефіцієнтом опору для контактного вимірювання змін температури в установленому діапазоні. Показано вплив кількості послідовно включених термоелементів на параметри вимірювальної системи, досліджено її метрологічні характеристики.
Metrological parameters of the non-standard contact device were investigated to characterize its performance in temperature change measurements in the specified temperature range. Several series thermistors with a negative temperature coefficient of resistance connected into a linearization circuit were used as the sensing element of the semiconductor device. Increasing the number of thermistors leads to improved circuitry resolving power and reduced dispersion of this parameter. However, there is the question of optimal ratio of the number of thermistors and implemented temperature resolution, due to the nonlinear resolution dependence of the number of series-connected thermoelements. An example of scheme of four similar thermistors as the primary sensor and of a standard measuring instrument, which is working in ohmmeter mode, shows the ability to measure temperature changes at the level of hundredth of a Celsius degree. In this case, a quantization error, which is determined by a resolution of the measuring system, and the ohmmeter accuracy make the main contribution to the overall accuracy of measuring small temperature changes.
|
| first_indexed | 2025-12-07T17:43:02Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70541 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T17:43:02Z |
| publishDate | 2014 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Самынина, М.Г. Шигимага, В.А. 2014-11-07T20:28:05Z 2014-11-07T20:28:05Z 2014 Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры / М.Г. Самынина, В.А. Шигимага // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 1. — С. 52-56. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 2225-5818 DOI: 10.15222/tkea2014.1.52 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70541 681.2.08:53.083.62 Предложено нестандартное устройство на основе полупроводниковых терморезисторов с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления для контактного измерения изменений температуры в установленном диапазоне. Показано влияние количества последовательно включенных термоэлементов на параметры измерительной системы, исследованы ее метрологические характеристики. Запропоновано нестандартний пристрій на основі напівпровідникових терморезисторів з негативним температурним коефіцієнтом опору для контактного вимірювання змін температури в установленому діапазоні. Показано вплив кількості послідовно включених термоелементів на параметри вимірювальної системи, досліджено її метрологічні характеристики. Metrological parameters of the non-standard contact device were investigated to characterize its performance in temperature change measurements in the specified temperature range. Several series thermistors with a negative temperature coefficient of resistance connected into a linearization circuit were used as the sensing element of the semiconductor device. Increasing the number of thermistors leads to improved circuitry resolving power and reduced dispersion of this parameter. However, there is the question of optimal ratio of the number of thermistors and implemented temperature resolution, due to the nonlinear resolution dependence of the number of series-connected thermoelements. An example of scheme of four similar thermistors as the primary sensor and of a standard measuring instrument, which is working in ohmmeter mode, shows the ability to measure temperature changes at the level of hundredth of a Celsius degree. In this case, a quantization error, which is determined by a resolution of the measuring system, and the ohmmeter accuracy make the main contribution to the overall accuracy of measuring small temperature changes. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Метрология. Стандартизация Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры Дослідження метрологічних характеристик системи вимірювання малих змін температури Investigation of metrological parameters of measuring system for small temperature changes Article published earlier |
| spellingShingle | Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры Самынина, М.Г. Шигимага, В.А. Метрология. Стандартизация |
| title | Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры |
| title_alt | Дослідження метрологічних характеристик системи вимірювання малих змін температури Investigation of metrological parameters of measuring system for small temperature changes |
| title_full | Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры |
| title_fullStr | Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры |
| title_full_unstemmed | Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры |
| title_short | Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры |
| title_sort | исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры |
| topic | Метрология. Стандартизация |
| topic_facet | Метрология. Стандартизация |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70541 |
| work_keys_str_mv | AT samyninamg issledovaniemetrologičeskihharakteristiksistemyizmereniâmalyhizmeneniitemperatury AT šigimagava issledovaniemetrologičeskihharakteristiksistemyizmereniâmalyhizmeneniitemperatury AT samyninamg doslídžennâmetrologíčnihharakteristiksistemivimírûvannâmalihzmíntemperaturi AT šigimagava doslídžennâmetrologíčnihharakteristiksistemivimírûvannâmalihzmíntemperaturi AT samyninamg investigationofmetrologicalparametersofmeasuringsystemforsmalltemperaturechanges AT šigimagava investigationofmetrologicalparametersofmeasuringsystemforsmalltemperaturechanges |