Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры

• Published in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Date: 2014
• Main Authors: Самынина, М.Г., Шигимага, В.А.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2014
• Subjects: Метрология. Стандартизация
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70541
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры / М.Г. Самынина, В.А. Шигимага // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 1. — С. 52-56. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Предложено нестандартное устройство на основе полупроводниковых терморезисторов с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления для контактного измерения изменений температуры в установленном диапазоне. Показано влияние количества последовательно включенных термоэлементов на параметры изме...