Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов
Проведены анализ и обобщение методов измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых приборов. Выделены их основные классификационные признаки и составлена классификация, с использованием которой определены наиболее эффективные методы измерения ВАХ с точки зрения сформулированных в ра...
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2014 |
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2014
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70548 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов / Е.А. Ермоленко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 2-3. — С. 3-11. — Бібліогр.: 37 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862720049474699264 |
|---|---|
| author | Ермоленко, Е.А. |
| author_facet | Ермоленко, Е.А. |
| citation_txt | Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов / Е.А. Ермоленко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 2-3. — С. 3-11. — Бібліогр.: 37 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Проведены анализ и обобщение методов измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых приборов. Выделены их основные классификационные признаки и составлена классификация, с использованием которой определены наиболее эффективные методы измерения ВАХ с точки зрения сформулированных в работе критериев (длительность процесса измерения и степень его автоматизации, а также интенсивность саморазогрева полупроводниковых структур
Проведено аналіз та узагальнено методи вимірювання вольт-амперних характеристик (ВАХ) напівпровідникових приладів. Виділено їх основні класифікаційні ознаки та складено класифікацію, з використанням якої визначено найбільш ефективні методи вимірювання ВАХ з точки зору сформульованих в роботі критеріїв (тривалість процесу вимірювання та ступінь його автоматизації, а також інтенсивність саморозігріву напівпровідникових структур при вимірюваннях).
It is shown that computer systems for measuring current-voltage characteristics are very important for semiconductor devices production. The main criteria of efficiency of such systems are defined. It is shown that efficiency of such systems significantly depends on the methods for measuring current-voltage characteristics of semiconductor devices. The aim of this work is to analyze existing methods for measuring current-voltage characteristics of semiconductor devices and to create the classification of these methods in order to specify the most effective solutions in terms of defined criteria.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:23:34Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70548 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:23:34Z |
| publishDate | 2014 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Ермоленко, Е.А. 2014-11-08T10:16:50Z 2014-11-08T10:16:50Z 2014 Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов / Е.А. Ермоленко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 2-3. — С. 3-11. — Бібліогр.: 37 назв. — рос. 2225-5818 DOI: 10.15222/TKEA2014.2-3.03 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70548 621.317: 621.3.08 Проведены анализ и обобщение методов измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых приборов. Выделены их основные классификационные признаки и составлена классификация, с использованием которой определены наиболее эффективные методы измерения ВАХ с точки зрения сформулированных в работе критериев (длительность процесса измерения и степень его автоматизации, а также интенсивность саморазогрева полупроводниковых структур Проведено аналіз та узагальнено методи вимірювання вольт-амперних характеристик (ВАХ) напівпровідникових приладів. Виділено їх основні класифікаційні ознаки та складено класифікацію, з використанням якої визначено найбільш ефективні методи вимірювання ВАХ з точки зору сформульованих в роботі критеріїв (тривалість процесу вимірювання та ступінь його автоматизації, а також інтенсивність саморозігріву напівпровідникових структур при вимірюваннях). It is shown that computer systems for measuring current-voltage characteristics are very important for semiconductor devices production. The main criteria of efficiency of such systems are defined. It is shown that efficiency of such systems significantly depends on the methods for measuring current-voltage characteristics of semiconductor devices. The aim of this work is to analyze existing methods for measuring current-voltage characteristics of semiconductor devices and to create the classification of these methods in order to specify the most effective solutions in terms of defined criteria. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Электронные средства: исследования, разработки Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов Класифікація методів вимірювання вольт-амперних характеристик напівпровідникових приладів Classification of methods for measuring current-voltage characteristics of semiconductor devices Article published earlier |
| spellingShingle | Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов Ермоленко, Е.А. Электронные средства: исследования, разработки |
| title | Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов |
| title_alt | Класифікація методів вимірювання вольт-амперних характеристик напівпровідникових приладів Classification of methods for measuring current-voltage characteristics of semiconductor devices |
| title_full | Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов |
| title_fullStr | Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов |
| title_full_unstemmed | Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов |
| title_short | Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов |
| title_sort | классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов |
| topic | Электронные средства: исследования, разработки |
| topic_facet | Электронные средства: исследования, разработки |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70548 |
| work_keys_str_mv | AT ermolenkoea klassifikaciâmetodovizmereniâvolʹtampernyhharakteristikpoluprovodnikovyhpriborov AT ermolenkoea klasifíkacíâmetodívvimírûvannâvolʹtampernihharakteristiknapívprovídnikovihpriladív AT ermolenkoea classificationofmethodsformeasuringcurrentvoltagecharacteristicsofsemiconductordevices |