Казаков, А., Андриянов, А., Миронов, В., & Поляруш, О. (2003). Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago Style (17th ed.) CitationКазаков, А.И, А.В Андриянов, В.С Миронов, and О.В Поляруш. "Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2003.
MLA (8th ed.) CitationКазаков, А.И, et al. "Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.