Казаков, А., Андриянов, А., Миронов, В., & Поляруш, О. (2003). Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Казаков, А.И, А.В Андриянов, В.С Миронов, und О.В Поляруш. "Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2003.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Казаков, А.И, et al. "Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.