Buchumschlag

Оценка технологического процесса изготовления СБИС по стабильности элементов ее структуры

Применяемый в производстве СБИС метод тестовых схем предлагается дополнить методикой определения нестабильных во времени элементов физической структуры изделия с использованием модели деградационных процессов. Показана возможность проведения ускоренных испытаний на элементах структуры. Приведены экс...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:	2003
Hauptverfasser:	Вантеев, А.М., Коробов, А.И.
Format:	Artikel
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Schlagworte:	Технология производства
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70609
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Оценка технологического процесса изготовления СБИС по стабильности элементов ее структуры / А.М. Вантеев, А.И. Коробов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2003. — № 2. — С. 33-35. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Оценка технологического процесса изготовления СБИС по стабильности элементов ее структуры
von: Vanteev, A. M., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Математическая модель технологического процесса по результатам пассивного эксперимента
von: Долгов, Ю.А., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Математическая модель технологического процесса по выборкам малого объема
von: Долгов, Ю.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Мониторинг стабильности технологического процесса изготовления электроизоляционных систем тяговых электрических машин
von: Беспрозванных, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов
von: Спирин, В.Г.
Veröffentlicht: (2004)

Моделирование процессов бесконтактного химикомеханического изготовления подложек полупроводников
von: Григорьев, Н.Н., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Технология изготовления термоэлектрических модулей Пельтье повышенной надежности
von: Ащеулов, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Технология изготовления лазерных красителей для диапазона 472-600 нм
von: Кругленко, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Технологические средства изготовления микрополосковых линий для ГИС КВЧ-диапазона
von: Кренделев, А.Е.
Veröffentlicht: (2002)

Исследование процесса монтажа кристаллов мощных транзисторов вибрационной пайкой
von: Ануфриев, Л.П., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Косвенный лазерный нагрев поликристаллического кремния для получения активных элементов микросхем
von: Искендер-заде, З.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Совершенствование процесса изготовления таблеток из диоксида урана
von: Одейчук, Н.П., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Оценка стабильности процесса сплавления при контактной стыковой сварке
von: Скачков, И.О., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Моделирование технологии изготовления субмикронных КМОП СБИС с помощью систем TCAD
von: Глушко, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Моделирование технологии изготовления субмикронных КМОП СБИС с помощью систем TCAD
von: Glushko, A. A., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Многокристальные модули на анодированной алюминиевой подложке
von: Сокол, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Выявление резервов производства методами статистического моделирования по пассивным данным
von: Долгов, Ю.А.
Veröffentlicht: (2004)

Оптимизация струйной технологии изготовления токопроводящих элементов печатных плат
von: Lesyuk, R. I., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки
von: Светличный, А.М., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Особенности применения напыленной фольги для алюминиевых электролитических конденсаторов
von: Гордиенко, Г.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Влияние обработки поверхности и нагрева на высоту потенциального барьера контактов к SiC
von: Агеев, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
von: Белоус, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Методы удаления полимерных загрязнений, вызванных плазмохимическим травлением
von: Иванчиков, А.Э., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Разработка процесса высокотемпературной газовой экструзии для изготовления однокристального и стержневого алмазного инструмента
von: Бугаков, В.И., et al.
Veröffentlicht: (2013)

Оценка стабильности процесса прокатки полосы по крутящему моменту в линии привода валков
von: Веренев, В.В., et al.
Veröffentlicht: (2013)

Получение электрокоммутационных слоев керамических теплопереходов методом детонационного напыления
von: Ащеулов, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Резистивные элементы, полученные на анодном оксиде алюминия имплантацией ионов Ti и Мо
von: Литвинович, Г.В., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Проблемы ресурсосбережения и экологической безопасности в гальванотехнологии
von: Скубилин, М.Д., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Численное моделирование лазерных фотоионизационных технологий очистки вещества на атомном уровне
von: Амбросов, С.В.
Veröffentlicht: (2003)

Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников
von: Васильев, В.А.
Veröffentlicht: (2002)

Измеритель параметров роторных машин
von: Дмитриев, Э.А., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Тепловые режимы формирования омических контактов к арсениду галлия
von: Иващук, А.В.
Veröffentlicht: (2000)

Итоги и перспективы развития технологии микроволнового нагрева диэлектрических материалов
von: Демьянчук, Б.А., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Темпленовые изоляторы для фидера сечением 70/30 мм
von: Кирюкова, Е.В.
Veröffentlicht: (2004)

Осаждение ЭДТА из комплексных растворов тяжелых металлов и его регенерирование
von: Гилене, О., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Применение контролируемого анодного окисления для экспресс-контроля в технологии пленок и тонкопленочных структур
von: Лебедева, Т.С., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Алгоритм управления для нечеткого регулятора
von: Вершинина, Л.П.
Veröffentlicht: (2001)

Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
von: Рубцевич, И.И., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники
von: Крылов, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Действие радиации на чувствительность магнитотранзисторов из высокоомного кремния
von: Викулина, Л.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2000)