Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами

Выявлены ранее не описанные структурные микродефекты, возникающие в пленках полупроводника при гамма-облучении. Показано, что причиной изменения оптических свойств таких пленок являются микронеоднородности и упругие поля вокруг них. Проведенными экспериментальными исследованиями процессов радиационн...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2003
Автори: Храмов, Е.Ф., Прохоров, Г.В., Пелихатый, Н.М., Гнап, А.К.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70618
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами м/ Е.Ф. Храмов, Г.В. Прохоров, Н.М. Пелихатый, А.К. Гнап // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2003. — № 2. — С. 58-60. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862561479995162624
author Храмов, Е.Ф.
Прохоров, Г.В.
Пелихатый, Н.М.
Гнап, А.К.
author_facet Храмов, Е.Ф.
Прохоров, Г.В.
Пелихатый, Н.М.
Гнап, А.К.
citation_txt Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами м/ Е.Ф. Храмов, Г.В. Прохоров, Н.М. Пелихатый, А.К. Гнап // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2003. — № 2. — С. 58-60. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Выявлены ранее не описанные структурные микродефекты, возникающие в пленках полупроводника при гамма-облучении. Показано, что причиной изменения оптических свойств таких пленок являются микронеоднородности и упругие поля вокруг них. Проведенными экспериментальными исследованиями процессов радиационного дефектообразования выявлена одна из возможных причин искажения электрического сигнала в слоистых структурах изделий твердотельной электроники. This paper deals with finding out the causes of appearing nonlinearities of the integral circuits components. It has been shown that in the interaction with γ - quantum's recrystallization tares place in semiconductors. The recrystallized areas are among the causes which produce the signal deformation.
first_indexed 2025-11-25T23:26:40Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70618
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-11-25T23:26:40Z
publishDate 2003
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Храмов, Е.Ф.
Прохоров, Г.В.
Пелихатый, Н.М.
Гнап, А.К.
2014-11-09T07:49:00Z
2014-11-09T07:49:00Z
2003
Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами м/ Е.Ф. Храмов, Г.В. Прохоров, Н.М. Пелихатый, А.К. Гнап // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2003. — № 2. — С. 58-60. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70618
Выявлены ранее не описанные структурные микродефекты, возникающие в пленках полупроводника при гамма-облучении. Показано, что причиной изменения оптических свойств таких пленок являются микронеоднородности и упругие поля вокруг них. Проведенными экспериментальными исследованиями процессов радиационного дефектообразования выявлена одна из возможных причин искажения электрического сигнала в слоистых структурах изделий твердотельной электроники.
This paper deals with finding out the causes of appearing nonlinearities of the integral circuits components. It has been shown that in the interaction with γ - quantum's recrystallization tares place in semiconductors. The recrystallized areas are among the causes which produce the signal deformation.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Материалы электроники
Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
Explosive crystallization thin films of semiconductors at γ-quantums irradiation
Article
published earlier
spellingShingle Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
Храмов, Е.Ф.
Прохоров, Г.В.
Пелихатый, Н.М.
Гнап, А.К.
Материалы электроники
title Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
title_alt Explosive crystallization thin films of semiconductors at γ-quantums irradiation
title_full Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
title_fullStr Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
title_full_unstemmed Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
title_short Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
title_sort взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
topic Материалы электроники
topic_facet Материалы электроники
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70618
work_keys_str_mv AT hramovef vzryvnaâkristallizaciâtonkihplenokpoluprovodnikovprioblučeniiykvantami
AT prohorovgv vzryvnaâkristallizaciâtonkihplenokpoluprovodnikovprioblučeniiykvantami
AT pelihatyinm vzryvnaâkristallizaciâtonkihplenokpoluprovodnikovprioblučeniiykvantami
AT gnapak vzryvnaâkristallizaciâtonkihplenokpoluprovodnikovprioblučeniiykvantami
AT hramovef explosivecrystallizationthinfilmsofsemiconductorsatγquantumsirradiation
AT prohorovgv explosivecrystallizationthinfilmsofsemiconductorsatγquantumsirradiation
AT pelihatyinm explosivecrystallizationthinfilmsofsemiconductorsatγquantumsirradiation
AT gnapak explosivecrystallizationthinfilmsofsemiconductorsatγquantumsirradiation