Васильев, В. (2002). Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Васильев, В.А. "Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2002.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Васильев, В.А. "Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.