Васильев, В. (2002). Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago Style (17th ed.) CitationВасильев, В.А. "Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2002.
MLA (8th ed.) CitationВасильев, В.А. "Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.