Васильев, В. (2002). Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Васильев, В.А. "Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2002.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Васильев, В.А. "Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.