Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок
Проанализированы сходства и различия размерно-геометрических параметров моделей микроструктуры серебро-палладиевых толстопленочных резисторов (ТПР). Впервые по структурной модели металлических кластеров и кластерной модели электрических связей на основе экспериментальных данных оценено число выборок...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Дата: | 2002 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2002
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70746 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок / А.В. Стерхова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 2. — С. 63-64. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70746 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Стерхова, А.В. 2014-11-11T20:07:06Z 2014-11-11T20:07:06Z 2002 Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок / А.В. Стерхова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 2. — С. 63-64. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70746 621.315.616 Проанализированы сходства и различия размерно-геометрических параметров моделей микроструктуры серебро-палладиевых толстопленочных резисторов (ТПР). Впервые по структурной модели металлических кластеров и кластерной модели электрических связей на основе экспериментальных данных оценено число выборок гауссовского нормального рапределения для длины и площади проводящих гранул и межгранулярного расстояния в широком диапазоне удельных сопротивлений толстопленочных резисторов. Результаты работы использованы при исследовании процессов протекания тока в ТПР. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Материалы электроники Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок |
| spellingShingle |
Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок Стерхова, А.В. Материалы электроники |
| title_short |
Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок |
| title_full |
Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок |
| title_fullStr |
Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок |
| title_full_unstemmed |
Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок |
| title_sort |
размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок |
| author |
Стерхова, А.В. |
| author_facet |
Стерхова, А.В. |
| topic |
Материалы электроники |
| topic_facet |
Материалы электроники |
| publishDate |
2002 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| description |
Проанализированы сходства и различия размерно-геометрических параметров моделей микроструктуры серебро-палладиевых толстопленочных резисторов (ТПР). Впервые по структурной модели металлических кластеров и кластерной модели электрических связей на основе экспериментальных данных оценено число выборок гауссовского нормального рапределения для длины и площади проводящих гранул и межгранулярного расстояния в широком диапазоне удельных сопротивлений толстопленочных резисторов. Результаты работы использованы при исследовании процессов протекания тока в ТПР.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70746 |
| citation_txt |
Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок / А.В. Стерхова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 2. — С. 63-64. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT sterhovaav razmernogeometričeskieparametrymodeleimikrostrukturytolstyhrezistivnyhplenok |
| first_indexed |
2025-12-07T16:32:26Z |
| last_indexed |
2025-12-07T16:32:26Z |
| _version_ |
1850867865449660416 |