Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2002
• Hauptverfasser: Креденцер, Б.П., Ленков, С.В., Салимов, Р.А., Перегудов, Д.А., Шомин, С.А.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2002
• Schlagworte: Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70777
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники / Б.П. Креденцер, С.В. Ленков, Р.А. Салимов, Д.А. Перегудов, С.А. Шомин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной работы одного элемента (элементы идентичны) и начиная с какого уровня следует их резервировать, чтобы получить максимальное значение показателя безотказности резервированной подсистемы. The problem parameter's optimization of non-failure operation of subsystems in complex devices of microelectronics with the simultaneous account of modernization of elements and their reservations is considered. The settlement ratio are received, allowing to define, up to what level it is expedient to raise probability of non-failure operation of one element (elements are identical) and since what level it is necessary to reserve them to receive the maximal value of a parameter of non-failure operation of a reserved subsystem.