Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники
Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной рабо...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2002 |
| Hauptverfasser: | , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2002
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70777 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники / Б.П. Креденцер, С.В. Ленков, Р.А. Салимов, Д.А. Перегудов, С.А. Шомин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70777 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Креденцер, Б.П. Ленков, С.В. Салимов, Р.А. Перегудов, Д.А. Шомин, С.А. 2014-11-12T08:06:57Z 2014-11-12T08:06:57Z 2002 Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники / Б.П. Креденцер, С.В. Ленков, Р.А. Салимов, Д.А. Перегудов, С.А. Шомин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70777 621.396.6 Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной работы одного элемента (элементы идентичны) и начиная с какого уровня следует их резервировать, чтобы получить максимальное значение показателя безотказности резервированной подсистемы. The problem parameter's optimization of non-failure operation of subsystems in complex devices of microelectronics with the simultaneous account of modernization of elements and their reservations is considered. The settlement ratio are received, allowing to define, up to what level it is expedient to raise probability of non-failure operation of one element (elements are identical) and since what level it is necessary to reserve them to receive the maximal value of a parameter of non-failure operation of a reserved subsystem. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники Level's optimization of non-failure operation in complex devices of microelectronics Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| spellingShingle |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники Креденцер, Б.П. Ленков, С.В. Салимов, Р.А. Перегудов, Д.А. Шомин, С.А. Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| title_short |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_full |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_fullStr |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_full_unstemmed |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_sort |
оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| author |
Креденцер, Б.П. Ленков, С.В. Салимов, Р.А. Перегудов, Д.А. Шомин, С.А. |
| author_facet |
Креденцер, Б.П. Ленков, С.В. Салимов, Р.А. Перегудов, Д.А. Шомин, С.А. |
| topic |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| topic_facet |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| publishDate |
2002 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Level's optimization of non-failure operation in complex devices of microelectronics |
| description |
Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной работы одного элемента (элементы идентичны) и начиная с какого уровня следует их резервировать, чтобы получить максимальное значение показателя безотказности резервированной подсистемы.
The problem parameter's optimization of non-failure operation of subsystems in complex devices of microelectronics with the simultaneous account of modernization of elements and their reservations is considered. The settlement ratio are received, allowing to define, up to what level it is expedient to raise probability of non-failure operation of one element (elements are identical) and since what level it is necessary to reserve them to receive the maximal value of a parameter of non-failure operation of a reserved subsystem.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70777 |
| citation_txt |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники / Б.П. Креденцер, С.В. Ленков, Р.А. Салимов, Д.А. Перегудов, С.А. Шомин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT kredencerbp optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustroistvahmikroélektroniki AT lenkovsv optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustroistvahmikroélektroniki AT salimovra optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustroistvahmikroélektroniki AT peregudovda optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustroistvahmikroélektroniki AT šominsa optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustroistvahmikroélektroniki AT kredencerbp levelsoptimizationofnonfailureoperationincomplexdevicesofmicroelectronics AT lenkovsv levelsoptimizationofnonfailureoperationincomplexdevicesofmicroelectronics AT salimovra levelsoptimizationofnonfailureoperationincomplexdevicesofmicroelectronics AT peregudovda levelsoptimizationofnonfailureoperationincomplexdevicesofmicroelectronics AT šominsa levelsoptimizationofnonfailureoperationincomplexdevicesofmicroelectronics |
| first_indexed |
2025-12-07T19:44:32Z |
| last_indexed |
2025-12-07T19:44:32Z |
| _version_ |
1850879951857778688 |