Влияние облучения быстрыми нейтронами на эпитаксиальный арсенид галлия
Показана возможность управления параметрами эпитаксиальных слоев арсенида галлия с помощью радиационной обработки быстрыми нейтронами. В технологическом аспекте облучение нейтронами предлагается разделить на два вида в зависимости от дозы облучения. Первый (дозы облучения до 1·10¹⁵см⁻²) может служит...
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2002 |
| Main Authors: | Завадский, В.А., Ленков, С.В., Лукомский, Д.В., Мокрицкий, В.А. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2002
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70797 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Влияние облучения быстрыми нейтронами на эпитаксиальный арсенид галлия / В.А. Завадский, С.В. Ленков, Д.В. Лукомский, В.А. Мокрицкий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 6. — С. 7-9. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
Радиационное легирование сульфида кадмия и арсенида галлия
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2003)
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2003)
Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2001)
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2001)
Получение высокочистых галлия, цинка, кадмия и теллура для микроэлектроники
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001)
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001)
Обработка монокристаллов Сd–Zn–Te для применения в датчиках γ-излучения
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2001)
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2001)
Кремниевые МДП-структуры с оксидами редкоземельных элементов в качестве диэлектрика
by: Курмашев, Ш.Д., et al.
Published: (2001)
by: Курмашев, Ш.Д., et al.
Published: (2001)
Токопроводящий клей на основе порошка меди
by: Каркина, Е.А., et al.
Published: (2001)
by: Каркина, Е.А., et al.
Published: (2001)
Влияние режимов ионного легирования и фотонного отжига на параметры имплантированных слоев n-GaAs:Si
by: Бончик, А.Ю., et al.
Published: (2005)
by: Бончик, А.Ю., et al.
Published: (2005)
Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2002)
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2002)
Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 4. Особенности экспоненциальной кинетики
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2005)
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2005)
Радиобиологическое обоснование использования ротационного режима облучения быстрыми нейтронами
by: Демина, Э.А.
Published: (2005)
by: Демина, Э.А.
Published: (2005)
Ультрадисперсные субфазы в молекулярной электронике
by: Ковальчук, В.В.
Published: (2002)
by: Ковальчук, В.В.
Published: (2002)
Вакуумное напыление тонких пленок органических полупроводников и исследование их структуры
by: Орлов, В.Д., et al.
Published: (2001)
by: Орлов, В.Д., et al.
Published: (2001)
Выращивание гетероструктур GaSb/InAs жидкофазной эпитаксией без растворения подложки
by: Марончук, И.Е., et al.
Published: (2003)
by: Марончук, И.Е., et al.
Published: (2003)
Способы прогнозирования параметров стеклокерамики с межфазным слоем
by: Дмитриев, М.В.
Published: (2001)
by: Дмитриев, М.В.
Published: (2001)
Выбор полупроводникового материала для детекторов гамма-излучения
by: Абызов, А.С., et al.
Published: (2004)
by: Абызов, А.С., et al.
Published: (2004)
Полупроводниковые гетеропереходы оксид-InSe(GaSe) для фотоэлектрических анализаторов поляризованного излучения
by: Ковалюк, З.Д., et al.
Published: (2004)
by: Ковалюк, З.Д., et al.
Published: (2004)
Комплексный подход к получению высокочистых материалов для микроэлектроники
by: Ажажа, В.М., et al.
Published: (2002)
by: Ажажа, В.М., et al.
Published: (2002)
Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
by: Косяченко, Л.А., et al.
Published: (2002)
by: Косяченко, Л.А., et al.
Published: (2002)
Собственные полупроводники группы A³₂B⁶₃ как перспективные материалы для радиационно стойкой электроники
by: Королюк, С.Л., et al.
Published: (2001)
by: Королюк, С.Л., et al.
Published: (2001)
Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 3. Бимолекулярная кинетика затухания радиационных эффектов в ХСП
by: Вакив, Н.М.
Published: (2004)
by: Вакив, Н.М.
Published: (2004)
Исследование свойств полупроводниковых материалов для детекторов ионизирующих излучений
by: Кондрик, А.И., et al.
Published: (2003)
by: Кондрик, А.И., et al.
Published: (2003)
Технологические приемы улучшения теплового режима выращивания кристаллов GaAs методом Чохральского
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2004)
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2004)
Исследование свойств слоев поликремния на изоляторе при криогенных температурах для создания сенсоров
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2003)
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2003)
Квантовый выход межзонной излучательной рекомбинации в кристаллах CdHgTe
by: Власенко, А.И., et al.
Published: (2004)
by: Власенко, А.И., et al.
Published: (2004)
Акустостимулированное понижение температуры отжига радиационных дефектов в кристаллах Ge
by: Олих, Я.М., et al.
Published: (2004)
by: Олих, Я.М., et al.
Published: (2004)
Температурное поле в кристалле иттрий-алюминиевого граната при двухстадийном выращивании
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2005)
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2005)
Влияние изовалентного легирования висмутом на свойства эпитаксиального арсенида галлия
by: Шутов, С.В.
Published: (1999)
by: Шутов, С.В.
Published: (1999)
Влияние радиационного облучения на характеристики солнечных элементов из поликристаллического кремния
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2001)
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2001)
Модифицированный фосфид галлия для лазеров и мощных светодиодов
by: Гаркавенко, А.С., et al.
Published: (2001)
by: Гаркавенко, А.С., et al.
Published: (2001)
Структуры на основе гетероперехода "кремний—арсенид галлия" для интегральных оптронов
by: Терлецкая, Л.Л., et al.
Published: (2003)
by: Терлецкая, Л.Л., et al.
Published: (2003)
Кинетические коэффициенты в n-типе кремния, облучённого быстрыми нейтронами реактора
by: Долголенко, А.П.
Published: (2011)
by: Долголенко, А.П.
Published: (2011)
Конструкционные материалы с покрытиями в узлах технологического оборудования
by: Дудник, С.Ф., et al.
Published: (2001)
by: Дудник, С.Ф., et al.
Published: (2001)
Диодные реакторные системы микротравления
by: Фареник, В.И.
Published: (2002)
by: Фареник, В.И.
Published: (2002)
Оборудование для зондовой диагностики и контроля плазменных технологических процессов
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2002)
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2002)
Дифракционные исследования структуры сплавов никелида титана, аморфизованных закалкой и быстрыми нейтронами
by: Пархоменко, В.Д., et al.
Published: (2001)
by: Пархоменко, В.Д., et al.
Published: (2001)
Влияние методов выращивания и легирования на радиационную стойкость n-Si, облучённого быстрыми нейтронами реактора
by: Долголенко, А.П., et al.
Published: (2006)
by: Долголенко, А.П., et al.
Published: (2006)
Камера тепла и холода для изделий фотоэлектронной техники
by: Дунаенко, А.Х., et al.
Published: (2003)
by: Дунаенко, А.Х., et al.
Published: (2003)
Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
by: Будянский, А.М., et al.
Published: (2001)
by: Будянский, А.М., et al.
Published: (2001)
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2004)
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2004)
Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002)
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002)
Similar Items
-
Радиационное легирование сульфида кадмия и арсенида галлия
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2003) -
Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2001) -
Получение высокочистых галлия, цинка, кадмия и теллура для микроэлектроники
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001) -
Обработка монокристаллов Сd–Zn–Te для применения в датчиках γ-излучения
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2001) -
Кремниевые МДП-структуры с оксидами редкоземельных элементов в качестве диэлектрика
by: Курмашев, Ш.Д., et al.
Published: (2001)