Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС
Обсуждаются экспериментальные реузльтаты низкотемпературной деградации терморезисторов с отрицательным ТКС на основе манганитов переходных металлов (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. Впервые установлено, что, независимо от химического состава и технологических особенностей приготовления исследуемых керамических о...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2002 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2002
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70798 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС / В.А. Балицкая, Н.М. Вакив, О.И. Шпотюк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 6. — С. 10-13. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862600843168055296 |
|---|---|
| author | Балицкая, В.А. Вакив, Н.М. Шпотюк, О.И. |
| author_facet | Балицкая, В.А. Вакив, Н.М. Шпотюк, О.И. |
| citation_txt | Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС / В.А. Балицкая, Н.М. Вакив, О.И. Шпотюк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 6. — С. 10-13. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Обсуждаются экспериментальные реузльтаты низкотемпературной деградации терморезисторов с отрицательным ТКС на основе манганитов переходных металлов (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. Впервые установлено, что, независимо от химического состава и технологических особенностей приготовления исследуемых керамических образцов, процессы их термостарения описываются расширенной экспоненциальной релаксационной функцией ДеБаста—Джиларда или Уильямса—Уоттса.
Experimental results on thermally induced degradation tests carrier out at the relatively low ageing temperatures in NTC ceramic thermistors based on mixed transition-metal manganites (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄ are discussed. It is first established that, despite of chemical composition and technological features of the investigated ceramic samples, the stretched-exponential relaxation function of DeBast—Gillard or Williams—Watts is the unique analytical expression describing the kinetics of the observed degradation processes.
|
| first_indexed | 2025-11-28T00:50:04Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70798 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-28T00:50:04Z |
| publishDate | 2002 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Балицкая, В.А. Вакив, Н.М. Шпотюк, О.И. 2014-11-13T19:29:28Z 2014-11-13T19:29:28Z 2002 Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС / В.А. Балицкая, Н.М. Вакив, О.И. Шпотюк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 6. — С. 10-13. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70798 621.316.825 Обсуждаются экспериментальные реузльтаты низкотемпературной деградации терморезисторов с отрицательным ТКС на основе манганитов переходных металлов (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. Впервые установлено, что, независимо от химического состава и технологических особенностей приготовления исследуемых керамических образцов, процессы их термостарения описываются расширенной экспоненциальной релаксационной функцией ДеБаста—Джиларда или Уильямса—Уоттса. Experimental results on thermally induced degradation tests carrier out at the relatively low ageing temperatures in NTC ceramic thermistors based on mixed transition-metal manganites (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄ are discussed. It is first established that, despite of chemical composition and technological features of the investigated ceramic samples, the stretched-exponential relaxation function of DeBast—Gillard or Williams—Watts is the unique analytical expression describing the kinetics of the observed degradation processes. Работа была поддержана НТЦ Украины (проект 2080). Часть математических вычислений проводилась в сотрудничестве с Институтом электронных систем Варшавского технологического университета (Польша). ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Материалы для микроэлектроники Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС Mathematical modeling of degradation in NTC ceramic thermistor Article published earlier |
| spellingShingle | Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС Балицкая, В.А. Вакив, Н.М. Шпотюк, О.И. Материалы для микроэлектроники |
| title | Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС |
| title_alt | Mathematical modeling of degradation in NTC ceramic thermistor |
| title_full | Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС |
| title_fullStr | Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС |
| title_full_unstemmed | Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС |
| title_short | Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС |
| title_sort | математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ткс |
| topic | Материалы для микроэлектроники |
| topic_facet | Материалы для микроэлектроники |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70798 |
| work_keys_str_mv | AT balickaâva matematičeskoemodelirovaniedegradaciikeramičeskihtermorezistorovsotricatelʹnymtks AT vakivnm matematičeskoemodelirovaniedegradaciikeramičeskihtermorezistorovsotricatelʹnymtks AT špotûkoi matematičeskoemodelirovaniedegradaciikeramičeskihtermorezistorovsotricatelʹnymtks AT balickaâva mathematicalmodelingofdegradationinntcceramicthermistor AT vakivnm mathematicalmodelingofdegradationinntcceramicthermistor AT špotûkoi mathematicalmodelingofdegradationinntcceramicthermistor |