Стерхова, А., Ушаков, П., & Жарков, П. (2001). Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Стерхова, А.В, П.А Ушаков, та П.Н Жарков. "Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2001.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Стерхова, А.В, et al. "Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.