Стерхова, А., Ушаков, П., & Жарков, П. (2001). Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Стерхова, А.В, П.А Ушаков, und П.Н Жарков. "Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2001.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Стерхова, А.В, et al. "Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.