Стерхова, А., Ушаков, П., & Жарков, П. (2001). Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago Style (17th ed.) CitationСтерхова, А.В, П.А Ушаков, and П.Н Жарков. "Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2001.
MLA (8th ed.) CitationСтерхова, А.В, et al. "Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.