Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe

Выполнено исследование влияния радиационной обработки быстрыми электронами на фоторезисторы на основе соединения "кадмий—ртуть—теллур" при температуре 80 и 120 К. Приведен анализ дозовой зависимости темновых тока и сопротивления при облучении дозами 10¹³–10¹⁵ см⁻² и выше. The research of i...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2001
Автори: Завадский, В.А., Зубарев, В.В., Мокрицкий, В.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2001
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70852
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe / В.А. Завадский, В.В. Зубарев, В.А. Мокрицкий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 3. — С. 4-5. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70852
record_format dspace
spelling Завадский, В.А.
Зубарев, В.В.
Мокрицкий, В.А.
2014-11-15T14:11:04Z
2014-11-15T14:11:04Z
2001
Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe / В.А. Завадский, В.В. Зубарев, В.А. Мокрицкий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 3. — С. 4-5. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70852
621.37/39.193:539.216:539.211
Выполнено исследование влияния радиационной обработки быстрыми электронами на фоторезисторы на основе соединения "кадмий—ртуть—теллур" при температуре 80 и 120 К. Приведен анализ дозовой зависимости темновых тока и сопротивления при облучении дозами 10¹³–10¹⁵ см⁻² и выше.
The research of influence of radiation processing by high-energy electrons on photoreceivers on the base of cadmium—mercury—tellurium composition at 80 and 120 K temperature has been curried out. The analysis of dose dependence of dark current and resistance at irradiation by 10¹³–10¹⁵ cm⁻² doses and more has been given.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Материалы для микроэлектроники
Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
The irradiation of IR-photoreceivers based on CdHgTe
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
spellingShingle Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
Завадский, В.А.
Зубарев, В.В.
Мокрицкий, В.А.
Материалы для микроэлектроники
title_short Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
title_full Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
title_fullStr Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
title_full_unstemmed Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
title_sort радиационная обработка ик-фотоприемников на основе cdhgte
author Завадский, В.А.
Зубарев, В.В.
Мокрицкий, В.А.
author_facet Завадский, В.А.
Зубарев, В.В.
Мокрицкий, В.А.
topic Материалы для микроэлектроники
topic_facet Материалы для микроэлектроники
publishDate 2001
language Russian
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt The irradiation of IR-photoreceivers based on CdHgTe
description Выполнено исследование влияния радиационной обработки быстрыми электронами на фоторезисторы на основе соединения "кадмий—ртуть—теллур" при температуре 80 и 120 К. Приведен анализ дозовой зависимости темновых тока и сопротивления при облучении дозами 10¹³–10¹⁵ см⁻² и выше. The research of influence of radiation processing by high-energy electrons on photoreceivers on the base of cadmium—mercury—tellurium composition at 80 and 120 K temperature has been curried out. The analysis of dose dependence of dark current and resistance at irradiation by 10¹³–10¹⁵ cm⁻² doses and more has been given.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70852
citation_txt Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe / В.А. Завадский, В.В. Зубарев, В.А. Мокрицкий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 3. — С. 4-5. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT zavadskiiva radiacionnaâobrabotkaikfotopriemnikovnaosnovecdhgte
AT zubarevvv radiacionnaâobrabotkaikfotopriemnikovnaosnovecdhgte
AT mokrickiiva radiacionnaâobrabotkaikfotopriemnikovnaosnovecdhgte
AT zavadskiiva theirradiationofirphotoreceiversbasedoncdhgte
AT zubarevvv theirradiationofirphotoreceiversbasedoncdhgte
AT mokrickiiva theirradiationofirphotoreceiversbasedoncdhgte
first_indexed 2025-12-07T17:21:00Z
last_indexed 2025-12-07T17:21:00Z
_version_ 1850870921649192960