Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe

Исследованы вольт-амперные характеристики кристаллического и поликристаллического CdTe n- и р-типов проводимости. Обнаружен эффект переключения с памятью после облучения образцов импульсами лазерного излучения. Время переключения 10-100 нс. Установлено, что появление эффекта переключения с памятью о...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2001
Автори: Байдуллаева, А., Власенко, А.И., Ломовцев, А.В., Мозоль, П.Е.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2001
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70860
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe / А. Байдуллаева, А.И. Власенко, А.В. Ломовцев, П.Е. Мозоль // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 3. — С. 36-37. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862715951466676224
author Байдуллаева, А.
Власенко, А.И.
Ломовцев, А.В.
Мозоль, П.Е.
author_facet Байдуллаева, А.
Власенко, А.И.
Ломовцев, А.В.
Мозоль, П.Е.
citation_txt Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe / А. Байдуллаева, А.И. Власенко, А.В. Ломовцев, П.Е. Мозоль // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 3. — С. 36-37. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Исследованы вольт-амперные характеристики кристаллического и поликристаллического CdTe n- и р-типов проводимости. Обнаружен эффект переключения с памятью после облучения образцов импульсами лазерного излучения. Время переключения 10-100 нс. Установлено, что появление эффекта переключения с памятью обусловлено образованием слоя Те на поверхности образцов в результате лазерного облучения. The volt-current characteristics of n- and р-type CdTe single crystals and polycrystals have been investigated. The effect of switching with memory after samples irradiation by laser pulses has been seen. The switching time is about 10—100 ns. It has been established that the apperance of switching effect with memory was motivated by the formation of Te layer on the surface of samples as the result of laser irradiation.
first_indexed 2025-12-07T18:01:07Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70860
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-12-07T18:01:07Z
publishDate 2001
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Байдуллаева, А.
Власенко, А.И.
Ломовцев, А.В.
Мозоль, П.Е.
2014-11-15T14:26:10Z
2014-11-15T14:26:10Z
2001
Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe / А. Байдуллаева, А.И. Власенко, А.В. Ломовцев, П.Е. Мозоль // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 3. — С. 36-37. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70860
621.315.592
Исследованы вольт-амперные характеристики кристаллического и поликристаллического CdTe n- и р-типов проводимости. Обнаружен эффект переключения с памятью после облучения образцов импульсами лазерного излучения. Время переключения 10-100 нс. Установлено, что появление эффекта переключения с памятью обусловлено образованием слоя Те на поверхности образцов в результате лазерного облучения.
The volt-current characteristics of n- and р-type CdTe single crystals and polycrystals have been investigated. The effect of switching with memory after samples irradiation by laser pulses has been seen. The switching time is about 10—100 ns. It has been established that the apperance of switching effect with memory was motivated by the formation of Te layer on the surface of samples as the result of laser irradiation.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Сенсоэлектроника
Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe
Creation of switching elements with memory on the base of CdTe crystals
Article
published earlier
spellingShingle Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe
Байдуллаева, А.
Власенко, А.И.
Ломовцев, А.В.
Мозоль, П.Е.
Сенсоэлектроника
title Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe
title_alt Creation of switching elements with memory on the base of CdTe crystals
title_full Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe
title_fullStr Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe
title_full_unstemmed Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe
title_short Создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов CdTe
title_sort создание переключающих элементов с памятью на основе кристаллов cdte
topic Сенсоэлектроника
topic_facet Сенсоэлектроника
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70860
work_keys_str_mv AT baidullaevaa sozdaniepereklûčaûŝihélementovspamâtʹûnaosnovekristallovcdte
AT vlasenkoai sozdaniepereklûčaûŝihélementovspamâtʹûnaosnovekristallovcdte
AT lomovcevav sozdaniepereklûčaûŝihélementovspamâtʹûnaosnovekristallovcdte
AT mozolʹpe sozdaniepereklûčaûŝihélementovspamâtʹûnaosnovekristallovcdte
AT baidullaevaa creationofswitchingelementswithmemoryonthebaseofcdtecrystals
AT vlasenkoai creationofswitchingelementswithmemoryonthebaseofcdtecrystals
AT lomovcevav creationofswitchingelementswithmemoryonthebaseofcdtecrystals
AT mozolʹpe creationofswitchingelementswithmemoryonthebaseofcdtecrystals