Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2001 |
| ISSN: | 2225-5818 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2001
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862536947274088448 |
|---|---|
| author | Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. |
| author_facet | Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. |
| citation_txt | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа.
|
| first_indexed | 2025-11-24T11:41:39Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70874 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-24T11:41:39Z |
| publishDate | 2001 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. 2014-11-15T16:37:48Z 2014-11-15T16:37:48Z 2001 Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874 621.382 Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Технология производства Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения Article published earlier |
| spellingShingle | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. Технология производства |
| title | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_full | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_fullStr | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_full_unstemmed | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_short | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_sort | повышение достоверности отбраковки бис методом понижения питающего напряжения |
| topic | Технология производства |
| topic_facet | Технология производства |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874 |
| work_keys_str_mv | AT belousai povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT emelʹânovva povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT efimenkosa povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT pribylʹskiiav povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ |