Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2001 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2001
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70874 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. 2014-11-15T16:37:48Z 2014-11-15T16:37:48Z 2001 Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874 621.382 Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Технология производства Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| spellingShingle |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. Технология производства |
| title_short |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_full |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_fullStr |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_full_unstemmed |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_sort |
повышение достоверности отбраковки бис методом понижения питающего напряжения |
| author |
Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. |
| author_facet |
Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. |
| topic |
Технология производства |
| topic_facet |
Технология производства |
| publishDate |
2001 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| description |
Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874 |
| fulltext |
|
| citation_txt |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT belousai povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT emelʹânovva povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT efimenkosa povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT pribylʹskiiav povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ |
| first_indexed |
2025-11-24T11:41:39Z |
| last_indexed |
2025-11-24T11:41:39Z |
| _version_ |
1850846055885701120 |