Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения - Белоус, А.И.; Емельянов, В.А.; Ефименко, С.А.; Прибыльский, А.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001)
Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа.