Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат

Приведена методика решения задачи распознавания реперных знаков на изображениях многослойных печатных плат в системах автоматического оптического контроля качества их слоев. Предложено использовать контурный метод распознавания с помехоустойчивой процедурой выделения и прослеживания контуров и с опр...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2000
Автори: Крылов, В.Н., Щербакова, Г.Ю.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2000
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70911
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат / В.Н. Крылов, Г.Ю. Щербакова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 1. — С. 23-25. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70911
record_format dspace
spelling Крылов, В.Н.
Щербакова, Г.Ю.
2014-11-16T14:37:46Z
2014-11-16T14:37:46Z
2000
Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат / В.Н. Крылов, Г.Ю. Щербакова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 1. — С. 23-25. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70911
621.382
Приведена методика решения задачи распознавания реперных знаков на изображениях многослойных печатных плат в системах автоматического оптического контроля качества их слоев. Предложено использовать контурный метод распознавания с помехоустойчивой процедурой выделения и прослеживания контуров и с определением геометрических характеристик моментов-признаков — координат характерных точек. Для определения координат характерных точек предложен помехоустойчивый метод, использующий веерный интерполятор первого порядка.
The procedure of solving problem of reference mark identification on patterns of multilayer board in systems of automated optical quality control their layers has been given. It has been proposed to use contour-type method of identification with noiseimmunity procedure of distinguishing and following contours and with determinating of geometrical characteristics of markers moments of distinctive points coordinates. For determination of distinctive points coordinates it has been proposed noise-immunity method that uses first order fan-shaped interpolator.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Качество и надежность аппаратуры
Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
Суміщення зображень у системах оптич ного контролю друкованих плат
The pattern alignment in systems of optical check of printed circuits
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
spellingShingle Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
Крылов, В.Н.
Щербакова, Г.Ю.
Качество и надежность аппаратуры
title_short Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
title_full Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
title_fullStr Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
title_full_unstemmed Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
title_sort совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
author Крылов, В.Н.
Щербакова, Г.Ю.
author_facet Крылов, В.Н.
Щербакова, Г.Ю.
topic Качество и надежность аппаратуры
topic_facet Качество и надежность аппаратуры
publishDate 2000
language Russian
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Суміщення зображень у системах оптич ного контролю друкованих плат
The pattern alignment in systems of optical check of printed circuits
description Приведена методика решения задачи распознавания реперных знаков на изображениях многослойных печатных плат в системах автоматического оптического контроля качества их слоев. Предложено использовать контурный метод распознавания с помехоустойчивой процедурой выделения и прослеживания контуров и с определением геометрических характеристик моментов-признаков — координат характерных точек. Для определения координат характерных точек предложен помехоустойчивый метод, использующий веерный интерполятор первого порядка. The procedure of solving problem of reference mark identification on patterns of multilayer board in systems of automated optical quality control their layers has been given. It has been proposed to use contour-type method of identification with noiseimmunity procedure of distinguishing and following contours and with determinating of geometrical characteristics of markers moments of distinctive points coordinates. For determination of distinctive points coordinates it has been proposed noise-immunity method that uses first order fan-shaped interpolator.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70911
citation_txt Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат / В.Н. Крылов, Г.Ю. Щербакова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 1. — С. 23-25. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT krylovvn sovmeŝenieizobraženiivsistemahoptičeskogokontrolâpečatnyhplat
AT ŝerbakovagû sovmeŝenieizobraženiivsistemahoptičeskogokontrolâpečatnyhplat
AT krylovvn sumíŝennâzobraženʹusistemahoptičnogokontrolûdrukovanihplat
AT ŝerbakovagû sumíŝennâzobraženʹusistemahoptičnogokontrolûdrukovanihplat
AT krylovvn thepatternalignmentinsystemsofopticalcheckofprintedcircuits
AT ŝerbakovagû thepatternalignmentinsystemsofopticalcheckofprintedcircuits
first_indexed 2025-12-07T17:27:38Z
last_indexed 2025-12-07T17:27:38Z
_version_ 1850871338788454400