Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники
Предложена методика обработки данных при автоматизированном дефектоскопическом контроле материалов и поверхностей, алгоритмы распознавания текстурно-однородных областей и распознавания объекта на фоне текстуры. При распознавании текстурно-однородных областей проводится сегментация изображения по тек...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2000 |
| Hauptverfasser: | Крылов, В.Н., Антощук, С.Г., Щербакова, Г.Ю. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70963 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники / В.Н. Крылов, С.Г. Антощук, Г.Ю. Щербакова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 5-6. — С. 45-47. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
Применение контролируемого анодного окисления для экспресс-контроля в технологии пленок и тонкопленочных структур
von: Лебедева, Т.С., et al.
Veröffentlicht: (2003)
von: Лебедева, Т.С., et al.
Veröffentlicht: (2003)
Итоги и перспективы развития технологии микроволнового нагрева диэлектрических материалов
von: Демьянчук, Б.А., et al.
Veröffentlicht: (2003)
von: Демьянчук, Б.А., et al.
Veröffentlicht: (2003)
Алмазное полирование плоских поверхностей деталей оптических систем и электронной техники из кварца
von: Филатов, А.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Филатов, А.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2013)
Система автоматизации печи электрошлакового переплава
von: Ланцман, И.Д., et al.
Veröffentlicht: (2001)
von: Ланцман, И.Д., et al.
Veröffentlicht: (2001)
Повышение эффективности сканирующих систем неразрушающего контроля
von: Крылов, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (1999)
von: Крылов, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (1999)
Математическая модель технологического процесса по результатам пассивного эксперимента
von: Долгов, Ю.А., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: Долгов, Ю.А., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Совмещение изображений в системах оптического контроля печатных плат
von: Крылов, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: Крылов, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Повышение качества изделий электронной техники путем моделирования стадий их производства
von: Shestakova, T. V.
Veröffentlicht: (2007)
von: Shestakova, T. V.
Veröffentlicht: (2007)
Оценка ресурса изделий электронной техники
von: Стрельников, В.П.
Veröffentlicht: (2004)
von: Стрельников, В.П.
Veröffentlicht: (2004)
Полирование плоских прецизионных поверхностей элементов оптико-электронной техники из монокристаллического карбида кремния
von: Филатов, Ю.Д., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Филатов, Ю.Д., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Формирование столбиковых выводов для GaAs пиксельных детекторов
von: Беришвили, З.В., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Беришвили, З.В., et al.
Veröffentlicht: (2004)
Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов
von: Спирин, В.Г.
Veröffentlicht: (2004)
von: Спирин, В.Г.
Veröffentlicht: (2004)
Особенности применения напыленной фольги для алюминиевых электролитических конденсаторов
von: Гордиенко, Г.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: Гордиенко, Г.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Сварочное производство и рынок сварочной техники в современной экономике
von: Бернадский, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (2007)
von: Бернадский, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (2007)
Технология изготовления термоэлектрических модулей Пельтье повышенной надежности
von: Ащеулов, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Ащеулов, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)
Позиционирование изображений фотошаблонов в системах автоматизированного оптического контроля
von: Крылов, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (2007)
von: Крылов, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (2007)
Методы удаления полимерных загрязнений, вызванных плазмохимическим травлением
von: Иванчиков, А.Э., et al.
Veröffentlicht: (2003)
von: Иванчиков, А.Э., et al.
Veröffentlicht: (2003)
Устройство управления импульсным режимом электролиза при создании контактных площадок
von: Альбота, Л.А., et al.
Veröffentlicht: (2003)
von: Альбота, Л.А., et al.
Veröffentlicht: (2003)
Моделирование процессов бесконтактного химикомеханического изготовления подложек полупроводников
von: Григорьев, Н.Н., et al.
Veröffentlicht: (2003)
von: Григорьев, Н.Н., et al.
Veröffentlicht: (2003)
Резистивные элементы, полученные на анодном оксиде алюминия имплантацией ионов Ti и Мо
von: Литвинович, Г.В., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: Литвинович, Г.В., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Технология изготовления лазерных красителей для диапазона 472-600 нм
von: Кругленко, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Кругленко, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Получение электрокоммутационных слоев керамических теплопереходов методом детонационного напыления
von: Ащеулов, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Ащеулов, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)
Влияние обработки поверхности и нагрева на высоту потенциального барьера контактов к SiC
von: Агеев, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2001)
von: Агеев, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2001)
Проблемы ресурсосбережения и экологической безопасности в гальванотехнологии
von: Скубилин, М.Д., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Скубилин, М.Д., et al.
Veröffentlicht: (2004)
Численное моделирование лазерных фотоионизационных технологий очистки вещества на атомном уровне
von: Амбросов, С.В.
Veröffentlicht: (2003)
von: Амбросов, С.В.
Veröffentlicht: (2003)
Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников
von: Васильев, В.А.
Veröffentlicht: (2002)
von: Васильев, В.А.
Veröffentlicht: (2002)
Измеритель параметров роторных машин
von: Дмитриев, Э.А., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: Дмитриев, Э.А., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Косвенный лазерный нагрев поликристаллического кремния для получения активных элементов микросхем
von: Искендер-заде, З.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Искендер-заде, З.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Тепловые режимы формирования омических контактов к арсениду галлия
von: Иващук, А.В.
Veröffentlicht: (2000)
von: Иващук, А.В.
Veröffentlicht: (2000)
Технологические средства изготовления микрополосковых линий для ГИС КВЧ-диапазона
von: Кренделев, А.Е.
Veröffentlicht: (2002)
von: Кренделев, А.Е.
Veröffentlicht: (2002)
Темпленовые изоляторы для фидера сечением 70/30 мм
von: Кирюкова, Е.В.
Veröffentlicht: (2004)
von: Кирюкова, Е.В.
Veröffentlicht: (2004)
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
von: Белоус, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2001)
von: Белоус, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2001)
Осаждение ЭДТА из комплексных растворов тяжелых металлов и его регенерирование
von: Гилене, О., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Гилене, О., et al.
Veröffentlicht: (2004)
Алгоритм управления для нечеткого регулятора
von: Вершинина, Л.П.
Veröffentlicht: (2001)
von: Вершинина, Л.П.
Veröffentlicht: (2001)
Многокристальные модули на анодированной алюминиевой подложке
von: Сокол, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Сокол, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Исследование процесса монтажа кристаллов мощных транзисторов вибрационной пайкой
von: Ануфриев, Л.П., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: Ануфриев, Л.П., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
von: Рубцевич, И.И., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Рубцевич, И.И., et al.
Veröffentlicht: (2004)
Действие радиации на чувствительность магнитотранзисторов из высокоомного кремния
von: Викулина, Л.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: Викулина, Л.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки
von: Светличный, А.М., et al.
Veröffentlicht: (2001)
von: Светличный, А.М., et al.
Veröffentlicht: (2001)
Управление импульсным режимом в гальванотехнике
von: Стевич, З., et al.
Veröffentlicht: (2003)
von: Стевич, З., et al.
Veröffentlicht: (2003)
Ähnliche Einträge
-
Применение контролируемого анодного окисления для экспресс-контроля в технологии пленок и тонкопленочных структур
von: Лебедева, Т.С., et al.
Veröffentlicht: (2003) -
Итоги и перспективы развития технологии микроволнового нагрева диэлектрических материалов
von: Демьянчук, Б.А., et al.
Veröffentlicht: (2003) -
Алмазное полирование плоских поверхностей деталей оптических систем и электронной техники из кварца
von: Филатов, А.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2013) -
Система автоматизации печи электрошлакового переплава
von: Ланцман, И.Д., et al.
Veröffentlicht: (2001) -
Повышение эффективности сканирующих систем неразрушающего контроля
von: Крылов, В.Н., et al.
Veröffentlicht: (1999)