A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films

The problems of ultrathin stable electrically continuous metal films fabrication and their electron-transport properties are discussed. To prevent the coagulation process of metal grains during metal film condensation, the surfactant underlayers utilizing is discussed. Analysis of current theoretica...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Datum:2010
Hauptverfasser: Bigun, R.I., Kunitsky, Yu.A., Stasyuk, Z.V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2010
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/72472
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films / R.I. Bigun, Yu.A. Kunitsky, Z.V. Stasyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 1. — С. 129-142. — Бібліогр.: 50 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-72472
record_format dspace
spelling Bigun, R.I.
Kunitsky, Yu.A.
Stasyuk, Z.V.
2014-12-23T21:03:03Z
2014-12-23T21:03:03Z
2010
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films / R.I. Bigun, Yu.A. Kunitsky, Z.V. Stasyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 1. — С. 129-142. — Бібліогр.: 50 назв. — англ.
1816-5230
PACS numbers: 72.10.Fk, 73.23.Ad, 73.50.Bk, 73.61.At, 85.40.Xx
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/72472
The problems of ultrathin stable electrically continuous metal films fabrication and their electron-transport properties are discussed. To prevent the coagulation process of metal grains during metal film condensation, the surfactant underlayers utilizing is discussed. Analysis of current theoretical concepts concerning electron-transport properties of metal film is performed. The experimental data are explained within the scope of the modern theoretical models.
Обговорено проблему створення надтонких (товщина шару від 2 нм до 50 нм) електрично суцільних стабільних провідних шарів металів і вивчення їхніх електричних властивостей. Розглянуто можливість застосування сурфактантних підшарів для запобігання коаґуляції зародків кристалізації в процесі росту плівок. Здійснено аналізу сучасного стану модельних уявлень про перенесення заряду в металевих зразках обмежених розмірів, і на його основі проведено трактування результатів експериментального дослідження надтонких металевих плівок.
Обсуждается проблема создания сверхтонких (толщина слоя от 2 нм до 50 нм) электрически сплошных проводящих стабильных слоев металлов и исследования их электрических свойств. Рассмотрена возможность применения сурфактантных подслоев для предотвращения коагуляции зародышей кристаллизации в процессе роста пленок. Сделан анализ современного состояния модельных представлений о переносе заряда в металлических образцах ограниченных размеров, и на его основе проведена трактовка результатов экспериментального исследования сверхтонких металлических пленок.
en
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
spellingShingle A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
Bigun, R.I.
Kunitsky, Yu.A.
Stasyuk, Z.V.
title_short A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
title_full A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
title_fullStr A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
title_full_unstemmed A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
title_sort charge transport in ultrathin electrically continuous metal films
author Bigun, R.I.
Kunitsky, Yu.A.
Stasyuk, Z.V.
author_facet Bigun, R.I.
Kunitsky, Yu.A.
Stasyuk, Z.V.
publishDate 2010
language English
container_title Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
format Article
description The problems of ultrathin stable electrically continuous metal films fabrication and their electron-transport properties are discussed. To prevent the coagulation process of metal grains during metal film condensation, the surfactant underlayers utilizing is discussed. Analysis of current theoretical concepts concerning electron-transport properties of metal film is performed. The experimental data are explained within the scope of the modern theoretical models. Обговорено проблему створення надтонких (товщина шару від 2 нм до 50 нм) електрично суцільних стабільних провідних шарів металів і вивчення їхніх електричних властивостей. Розглянуто можливість застосування сурфактантних підшарів для запобігання коаґуляції зародків кристалізації в процесі росту плівок. Здійснено аналізу сучасного стану модельних уявлень про перенесення заряду в металевих зразках обмежених розмірів, і на його основі проведено трактування результатів експериментального дослідження надтонких металевих плівок. Обсуждается проблема создания сверхтонких (толщина слоя от 2 нм до 50 нм) электрически сплошных проводящих стабильных слоев металлов и исследования их электрических свойств. Рассмотрена возможность применения сурфактантных подслоев для предотвращения коагуляции зародышей кристаллизации в процессе роста пленок. Сделан анализ современного состояния модельных представлений о переносе заряда в металлических образцах ограниченных размеров, и на его основе проведена трактовка результатов экспериментального исследования сверхтонких металлических пленок.
issn 1816-5230
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/72472
citation_txt A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films / R.I. Bigun, Yu.A. Kunitsky, Z.V. Stasyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 1. — С. 129-142. — Бібліогр.: 50 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT bigunri achargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms
AT kunitskyyua achargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms
AT stasyukzv achargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms
AT bigunri chargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms
AT kunitskyyua chargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms
AT stasyukzv chargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms
first_indexed 2025-12-07T17:54:54Z
last_indexed 2025-12-07T17:54:54Z
_version_ 1850873053850894336