Гибридизированные полисиликат/полиэпоксиакрилат-уретанoмочевинные системы.IІ. Исследование морфологии методом атомной силовой микроскопии
Методом атомной силовой микроскопии исследована морфология органической матрицы в полиэпоксиакрилат-уретаномочевинных гибридных системах, наполненных in situ полисиликатом при различном соотношении компонентов. Установлено, что гибридизация органической матрицы, природа эпоксиакрилата и состав компо...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | Грищук, С., Каргер-Кочиш, Й., Кастэлля, Н., Грищук, О., Шевченко, В. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут хімії високомолекулярних сполук НАН України
2008
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7281 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Гибридизированные полисиликат/полиэпоксиакрилат-уретаномочевинные системы. II. Исследование морфологии методом атомной силовой микроскопии / С. Грищук, Й. Каргер-Кочиш, Н. Кастэлля, О. Грищук, В. Шевченко // Полімер. журн. — 2008. — Т. 30, № 2. — С. 139-143. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
-
Исследование аминомодифицированных зондов для атомно-силовой микроскопии биомолекул
von: Лиманский, А.П.
Veröffentlicht: (2002) -
Исследование аминомодифицированной слюды как субстрата для атомно-силовой микроскопии нуклеиновых кислот
von: Лиманский, А.П.
Veröffentlicht: (2001) -
Определение адгезионной прочности тонких оксидных покрытий на диэлектрических материалах методом атомно-силовой микроскопии
von: Билоконь, С.А., et al.
Veröffentlicht: (2014) -
Исследование зондовых методов получения элементов наноэлектронных приборов и технологии диагностики с использованием электростатической силовой микроскопии
von: Ходаковский, Н.И., et al.
Veröffentlicht: (2011) -
Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии
von: Рубежанская, М.Ю.
Veröffentlicht: (2012)