Осцилляционный гальваномагнитный эффект в многослойной пленке в условиях взаимной диффузии металлов

Теоретически проанализирован осцилляционный гальваномагнитный эффект в многослойной пленке в условиях взаимной диффузии металлов при произвольном соотношении между толщинами слоев и длиной свободного пробега электронов в них. Показано, что изменение проводящих свойств проводника в результате диффузи...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Date:2010
Main Author: Дехтярук, Л.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2010
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/73131
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Осцилляционный гальваномагнитный эффект в многослойной пленке в условиях взаимной диффузии металлов / Л.В. Дехтярук // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 3. — С. 567-577. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Теоретически проанализирован осцилляционный гальваномагнитный эффект в многослойной пленке в условиях взаимной диффузии металлов при произвольном соотношении между толщинами слоев и длиной свободного пробега электронов в них. Показано, что изменение проводящих свойств проводника в результате диффузионного отжига позволяет исследовать процесс объемной диффузии. Теоретично проаналізовано осциляційний ґальваномагнетний ефект у багатошаровій плівці в умовах взаємної дифузії металів при довільному співвідношенні між товщинами шарів і довжиною вільного пробігу електронів у них. Показано, що зміна провідних властивостей провідника в результаті дифузійного відпалу дозволяє дослідити процес об’ємної дифузії. Taking into account metal interdiffusion, we analyse theoretically the oscillation galvanomagnetic effect in multilayered films at arbitrary ratios between the layer thicknesses and the electron mean-free path. As shown, the changes in electronic conduction characteristics of multilayers upon diffusion annealing open the way to investigate the process of bulk diffusion in metals.
ISSN:1816-5230