Моделирование процессов фотолитографии на суперкомпьютере СКИФ К-1000

Разработана параллельная реализация моделирования процессов фотолитографии для применения на
 суперкомпьютере СКИФ К-1000. Использование параллельных средств вычисления позволило получить
 хорошие результаты по ускорению процесса формирования изображения в слое фоторезиста и последую...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2008
Main Authors: Дудкин, А.А., Инютин, А.В., Отвагин, А.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2008
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7477
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Моделирование процессов фотолитографии на суперкомпьютере СКИФ К-1000 / А.А. Дудкин, А.В. Инютин, А.В. Отвагин // Штучний інтелект. — 2008. — № 4. — С. 348-352. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Разработана параллельная реализация моделирования процессов фотолитографии для применения на
 суперкомпьютере СКИФ К-1000. Использование параллельных средств вычисления позволило получить
 хорошие результаты по ускорению процесса формирования изображения в слое фоторезиста и последующего
 автоматического контроля оригиналов топологии. Розроблена паралельна реалізація моделювання процесів фотолітографії для застосування на
 суперкомп’ютері СКІФ К-1000. Використання паралельних засобів обчислення дозволило одержати
 добрі результати з прискорення процесу формування зображення в шарі фоторезиста і подальшого
 автоматичного контролю оригіналів топології. The parallel realization of modeling of photolithography processes was developed for application on
 supercomputer SKIF К-1000. Parallel means of calculation have allowed accelerating of image generation
 process in a photoresist layer and the subsequent automatic mask inspection.
ISSN:1561-5359