Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
Предложена квантово-механическая модель рабочей зоны алмазного острия сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) в виде набора полубесконечных цепочек сферических потенциальных ям заданной глубины и радиуса. На основании предложенной модели выполнен расчёт туннельного тока в системе «алмазное острие—по...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|---|---|
| Datum: | 2011 |
| Hauptverfasser: | Грушко, В., Новиков, Н., Лысенко, О., Щербаков, А., Мицкевич, Е. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2011
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75120 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием / В. Грушко, Н. Новиков, О. Лысенко, А. Щербаков, Е. Мицкевич // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2011. — Т. 9, № 4. — С. 735-746. — Бібліогр.: 28 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
-
Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза
von: Лысенко, О.Г., et al.
Veröffentlicht: (2013) -
Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей ta-C-пленки
von: Цысарь, М.А.
Veröffentlicht: (2012) -
Применение сканирующего зондового микроскопа с алмазным острием в качестве нанотехнологического инструмента
von: Лысенко, О.Г.
Veröffentlicht: (2009) -
Зонды с алмазным острием для сканирующей туннельной микроскопии
von: Цысарь, М.А., et al.
Veröffentlicht: (2015) -
Исследование анизотропии поверхности поликристаллического покрытия нитрида галлия на туннельном микроскопе, оснащенном острием из алмаза, легированного бором
von: Цысарь, М.А.
Veröffentlicht: (2016)