Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём

• Veröffentlicht in: Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
• Datum: 2012
• 1. Verfasser: Цысарь, М.А.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2012
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75293
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём / М.А. Цысарь // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2012. — Т. 10, № 2. — С. 343-349. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Представлены исследования стекла системы Ag₂O—B₂O₃. Было установлено, что можно использовать сканирующий туннельный микроскоп для исследования качества обработки поверхности. Также был рассмотрен случай перепада высот при переходе от материала стекла к материалу вставки Ni. Наведено дослідження скла системи Ag₂O—B₂O₃. Показано, що можливо використовувати сканувальний тунельний мікроскоп для дослідження якости оброблення поверхні. Також розглянуто випадок перепаду висот при переході від матеріялу скла до матеріялу вставки Ni. Investigation of Ag₂O—B₂O₃ glass is presented. As established, the method of scanning tunnelling microscopy can be used to determine a surface quality. A case of step on boundary between glass and Ni interlayer is also considered.