Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём
Представлены исследования стекла системы Ag₂O—B₂O₃. Было установлено, что можно использовать сканирующий туннельный микроскоп для исследования качества обработки поверхности. Также был рассмотрен случай перепада высот при переходе от материала стекла к материалу вставки Ni. Наведено дослідження скла...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|---|---|
| Дата: | 2012 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2012
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75293 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём / М.А. Цысарь // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2012. — Т. 10, № 2. — С. 343-349. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862719402414178304 |
|---|---|
| author | Цысарь, М.А. |
| author_facet | Цысарь, М.А. |
| citation_txt | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём / М.А. Цысарь // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2012. — Т. 10, № 2. — С. 343-349. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| description | Представлены исследования стекла системы Ag₂O—B₂O₃. Было установлено, что можно использовать сканирующий туннельный микроскоп для исследования качества обработки поверхности. Также был рассмотрен случай перепада высот при переходе от материала стекла к материалу вставки Ni.
Наведено дослідження скла системи Ag₂O—B₂O₃. Показано, що можливо використовувати сканувальний тунельний мікроскоп для дослідження якости оброблення поверхні. Також розглянуто випадок перепаду висот при переході від матеріялу скла до матеріялу вставки Ni.
Investigation of Ag₂O—B₂O₃ glass is presented. As established, the method of scanning tunnelling microscopy can be used to determine a surface quality. A case of step on boundary between glass and Ni interlayer is also considered.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:20:23Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-75293 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1816-5230 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:20:23Z |
| publishDate | 2012 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Цысарь, М.А. 2015-01-28T13:20:00Z 2015-01-28T13:20:00Z 2012 Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём / М.А. Цысарь // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2012. — Т. 10, № 2. — С. 343-349. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. 1816-5230 PACS numbers: 07.79.Cz, 68.35.Ct, 68.37.Ef, 81.40.Pq, 81.65.Ps, 81.30.Tx https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75293 Представлены исследования стекла системы Ag₂O—B₂O₃. Было установлено, что можно использовать сканирующий туннельный микроскоп для исследования качества обработки поверхности. Также был рассмотрен случай перепада высот при переходе от материала стекла к материалу вставки Ni. Наведено дослідження скла системи Ag₂O—B₂O₃. Показано, що можливо використовувати сканувальний тунельний мікроскоп для дослідження якости оброблення поверхні. Також розглянуто випадок перепаду висот при переході від матеріялу скла до матеріялу вставки Ni. Investigation of Ag₂O—B₂O₃ glass is presented. As established, the method of scanning tunnelling microscopy can be used to determine a surface quality. A case of step on boundary between glass and Ni interlayer is also considered. ru Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём Article published earlier |
| spellingShingle | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём Цысарь, М.А. |
| title | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_full | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_fullStr | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_full_unstemmed | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_short | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_sort | исследование стекла системы ag₂o—b₂o₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75293 |
| work_keys_str_mv | AT cysarʹma issledovaniesteklasistemyag2ob2o3metodomskaniruûŝeitunnelʹnoimikroskopiispoluprovodnikovymalmaznymostriem |