Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se
Поєднанням метод електронної й атомно-силової мікроскопії визначено кількісні параметри наноструктури аморфних плівок системи Ge—Se: розміри неоднорідностей, висоту виступів та глибину впадин рельєфу поверхні, діаметри зерен або стовпчиків, розміри каналів між стовпчиками, розміри нанопор, ступінь...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|---|---|
| Дата: | 2013 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2013
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75899 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se / М.Ю. Бобик, В.П. Іваницький, В.С. Ковтуненко, В.І. Сабов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2013. — Т. 11, № 1. — С. 73-88. — Бібліогр.: 20 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1859509844065648640 |
|---|---|
| author | Бобик, М.Ю. Іваницький, В.П. Ковтуненко, В.С. Сабов, В.І. |
| author_facet | Бобик, М.Ю. Іваницький, В.П. Ковтуненко, В.С. Сабов, В.І. |
| citation_txt | Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se / М.Ю. Бобик, В.П. Іваницький, В.С. Ковтуненко, В.І. Сабов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2013. — Т. 11, № 1. — С. 73-88. — Бібліогр.: 20 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| description | Поєднанням метод електронної й атомно-силової мікроскопії визначено
кількісні параметри наноструктури аморфних плівок системи Ge—Se: розміри неоднорідностей, висоту виступів та глибину впадин рельєфу поверхні, діаметри зерен або стовпчиків, розміри каналів між стовпчиками,
розміри нанопор, ступінь нанопористости. Встановлено, що нанонеоднорідності реалізуються завдяки наявності рельєфу поверхні досліджуваних зразків та їх нанопористости.
The quantitative parameters of Ge—Se amorphous films nanostructure: heterogeneity
sizes, bumps heights and hollows depths of surface relief, diameters
of grains or columns, the channels widths, nanopores size, degree of nanoporosity
are determined by combination of both the electron microscopy
and the atomic force microscopy. As revealed, the nanoinhomogeneities are
realized due to the topography of the samples and their nanoporosity.
Сочетанием методов электронной и атомно-силовой микроскопии определены количественные параметры наноструктуры аморфных плёнок системы Ge—Se: размеры неоднородностей, высота выступов и глубина впадин рельефа поверхности, диаметры зёрен или столбиков, размеры каналов между столбиками, размеры нанопор, степень нанопористости. Установлено, что нанонеоднородности реализуются благодаря наличию рельефа поверхности исследуемых образцов и их нанопористости.
|
| first_indexed | 2025-11-25T15:18:50Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-75899 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1816-5230 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-11-25T15:18:50Z |
| publishDate | 2013 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Бобик, М.Ю. Іваницький, В.П. Ковтуненко, В.С. Сабов, В.І. 2015-02-05T17:55:22Z 2015-02-05T17:55:22Z 2013 Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se / М.Ю. Бобик, В.П. Іваницький, В.С. Ковтуненко, В.І. Сабов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2013. — Т. 11, № 1. — С. 73-88. — Бібліогр.: 20 назв. — укр. 1816-5230 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75899 PACSnumbers:07.78.+s,07.79.-v,61.05.J-,61.43.Er,68.37.Lp,87.64.Bx,87.64.Ee Поєднанням метод електронної й атомно-силової мікроскопії визначено кількісні параметри наноструктури аморфних плівок системи Ge—Se: розміри неоднорідностей, висоту виступів та глибину впадин рельєфу поверхні, діаметри зерен або стовпчиків, розміри каналів між стовпчиками, розміри нанопор, ступінь нанопористости. Встановлено, що нанонеоднорідності реалізуються завдяки наявності рельєфу поверхні досліджуваних зразків та їх нанопористости. The quantitative parameters of Ge—Se amorphous films nanostructure: heterogeneity sizes, bumps heights and hollows depths of surface relief, diameters of grains or columns, the channels widths, nanopores size, degree of nanoporosity are determined by combination of both the electron microscopy and the atomic force microscopy. As revealed, the nanoinhomogeneities are realized due to the topography of the samples and their nanoporosity. Сочетанием методов электронной и атомно-силовой микроскопии определены количественные параметры наноструктуры аморфных плёнок системы Ge—Se: размеры неоднородностей, высота выступов и глубина впадин рельефа поверхности, диаметры зёрен или столбиков, размеры каналов между столбиками, размеры нанопор, степень нанопористости. Установлено, что нанонеоднородности реализуются благодаря наличию рельефа поверхности исследуемых образцов и их нанопористости. uk Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se Article published earlier |
| spellingShingle | Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se Бобик, М.Ю. Іваницький, В.П. Ковтуненко, В.С. Сабов, В.І. |
| title | Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se |
| title_full | Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se |
| title_fullStr | Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se |
| title_full_unstemmed | Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se |
| title_short | Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se |
| title_sort | кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи ge—se |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75899 |
| work_keys_str_mv | AT bobikmû kílʹkísníparametristohastičnonanoneodnorídnoístrukturiamorfnihplívoksistemigese AT ívanicʹkiivp kílʹkísníparametristohastičnonanoneodnorídnoístrukturiamorfnihplívoksistemigese AT kovtunenkovs kílʹkísníparametristohastičnonanoneodnorídnoístrukturiamorfnihplívoksistemigese AT sabovví kílʹkísníparametristohastičnonanoneodnorídnoístrukturiamorfnihplívoksistemigese |