Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности
Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии
 (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его...
Saved in:
| Published in: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|---|---|
| Date: | 2014 |
| Main Authors: | , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2014
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75952 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры
 поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862589477478727680 |
|---|---|
| author | Грушко, В. Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. |
| author_facet | Грушко, В. Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. |
| citation_txt | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры
 поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| description | Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии
(СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изображения, полученного при
малых туннельных напряжениях. Представленная методика может использоваться при нанотехнологических операциях атомарной сборки логических элементов квантовых компьютеров, элементов наноэлектроники, при создании и изучении однофотонных источников и др.
Наведено нову методику дослідження атомарної структури поверхні на
основі методів сканівної тунельної мікроскопії (СТМ) і сканівної тунельної
спектроскопії (СТС) з діамантовим зондом. В основу методики покладено
ідею порівняння СТМ-зображення досліджуваної ділянки поверхні з її
СТС-зображенням, одержаним за малих тунельних напруг. Наведена методика може використовуватися при нанотехнологічних операціях атомарного складання логічних елементів квантових комп’ютерів, елементів
наноелектроніки, при створенні й вивченні однофотонних джерел тощо.
A new technique to study the atomic structure of the surface on the basis of
scanning tunnelling microscopy (STM) and scanning tunnelling spectroscopy
(STS) with a diamond tip is represented. The technique is based on the idea of
comparing STM images of the studied surface area with its STS-image obtained
at low tunnelling voltages. The presented method can be used for fabrication
of logic elements of quantum computers and elements of nanoelectron-
ics, for development and study of the single-photon sources as well as for other
nanotechnological operations.
|
| first_indexed | 2025-11-27T02:55:52Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-75952 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1816-5230 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-27T02:55:52Z |
| publishDate | 2014 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Грушко, В. Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. 2015-02-06T14:17:14Z 2015-02-06T14:17:14Z 2014 Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры
 поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос. 1816-5230 PACSnumbers:07.35.+k,07.79.-Cz,68.37.Ef,73.40.Gk,73.63.Rt,81.05.uj,81.07.Lk https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75952 Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии
 (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изображения, полученного при
 малых туннельных напряжениях. Представленная методика может использоваться при нанотехнологических операциях атомарной сборки логических элементов квантовых компьютеров, элементов наноэлектроники, при создании и изучении однофотонных источников и др. Наведено нову методику дослідження атомарної структури поверхні на
 основі методів сканівної тунельної мікроскопії (СТМ) і сканівної тунельної
 спектроскопії (СТС) з діамантовим зондом. В основу методики покладено
 ідею порівняння СТМ-зображення досліджуваної ділянки поверхні з її
 СТС-зображенням, одержаним за малих тунельних напруг. Наведена методика може використовуватися при нанотехнологічних операціях атомарного складання логічних елементів квантових комп’ютерів, елементів
 наноелектроніки, при створенні й вивченні однофотонних джерел тощо. A new technique to study the atomic structure of the surface on the basis of
 scanning tunnelling microscopy (STM) and scanning tunnelling spectroscopy
 (STS) with a diamond tip is represented. The technique is based on the idea of
 comparing STM images of the studied surface area with its STS-image obtained
 at low tunnelling voltages. The presented method can be used for fabrication
 of logic elements of quantum computers and elements of nanoelectron-
 ics, for development and study of the single-photon sources as well as for other
 nanotechnological operations. ru Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности Article published earlier |
| spellingShingle | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности Грушко, В. Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. |
| title | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_full | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_fullStr | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_full_unstemmed | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_short | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_sort | новая стм/стс-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75952 |
| work_keys_str_mv | AT gruškov novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnoistrukturypoverhnosti AT novikovn novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnoistrukturypoverhnosti AT čaikaa novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnoistrukturypoverhnosti AT mickeviče novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnoistrukturypoverhnosti AT lysenkoo novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnoistrukturypoverhnosti |